Нажимая кнопку «Подписаться», вы принимаете условия «Соглашения на обработку персональных данных».
Участие в конференции "Графен: молекула и 2D-кристалл"
Мы приняли участие в конференции «Графен: молекула и 2D-кристалл», которая прошла 8 - 12 сентября 2015 г. в г. Новосибирск. Организатор конференции – Институт неорганической химии им. А.В. Николаева. Это первая российская конференция, посвященная Графену.
Наша компания выступила в качестве спонсора выставки и приняла участие в работе выставки.
На нашем стенде была представлена подробная информация по атомно-силовым микроскопам, которые успешно применяются для работы с графеном:
АТОМНО-СИЛОВОЙ МИКРОСКОП NX10
Один из наиболее совершенных атомно-силовых микроскопов бесконтактного типа с длительным сроком службы наконечника (зонда) и сканированием поверхности образца, не нарушающим его целостность.
ВЫСОКОТОЧНЫЙ АТОМНО-СИЛОВОЙ МИКРОСКОП PARK NX20
Самый точный АСМ в мире для анализа крупных образцов, поэтому он получил широкое распространение в индустрии жестких дисков и полупроводников.