Участие в Международной конференции «Сканирующая Зондовая Микроскопия – 2017»

Наша компания приняла участие в Международной конференции «Сканирующая Зондовая Микроскопия – 2017», которая проходила 27 – 30 августа 2017 г. в Уральском федеральном университете в Екатеринбурге.

В СЗМ-2017 приняли участие около 150 ученых из 8 стран и 24 городов России. Было представлено 14 приглашенных, 44 устных и 104 стендовых доклада, а также 9 докладов участников выставки оборудования.

ООО «Промэнерголаб» выступила в качестве спонсора и приняла участие в работе выставки.

Специалист нашей компании Чебуркин В.В. выступил с докладом "Атомно-силовые микроскопы компании Park Systems".

На нашем стенде была представлена подробная информация по атомно-силовым микроскопам Park Systems:

АТОМНО-СИЛОВОЙ МИКРОСКОП NX10
АСМ бесконтактного типа с длительным сроком службы наконечника (зонда) и сканированием поверхности образца, не нарушающим его целостность.

АТОМНО-СИЛОВОЙ МИКРОСКОП PARK NX20
Самый точный АСМ в мире для анализа крупных образцов, поэтому он получил широкое распространение в индустрии жестких дисков и полупроводников.

АТОМНО-СИЛОВОЙ МИКРОСКОП PARK XE15
Инструмент для лабораторий, работающих со множеством различных образцов, исследователей, инженеров, специализирующихся на выявлении дефектов в подложках.

АТОМНО-СИЛОВОЙ МИКРОСКОП PARK XE7
Высокотехнологичный микроскоп обеспечивает выполнение точных измерений с наноразрешением. Он отображает мельчайшие характеристики образцов благодаря плоскому, ортогональному и линейному сканирующим измерениям.

БИОЛОГИЧЕСКИЙ ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ МИКРОСКОП PARK NX-BIO
Инструмент 3-в-1, который уникально объединяет СИПМ и АСМ с инвертированным оптическим микроскопом (ИОМ) на одной платформе.