Нажимая кнопку «Подписаться», вы принимаете условия «Соглашения на обработку персональных данных».
Участие в Международной конференции «Сканирующая Зондовая Микроскопия – 2019»
Наша компания примет участие в Международной конференции «Сканирующая Зондовая Микроскопия – 2019», которая будет проходить 25 – 28 августа 2019 г. в Уральском федеральном университете в Екатеринбурге.
Конференция будет посвящена широкому кругу вопросов, связанных с современным состоянием и перспективами развития различных методов Сканирующей Зондовой Микроскопии (СЗМ) в различных областях науки.
ОСНОВНЫЕ НАПРАВЛЕНИЯ КОНФЕРЕНЦИИ:
- СЗМ в материаловедении
- PFM, MFM, KPFM, SNOM, ESM, SEM и связанные с ними методы
- Зондовая литография
- Биосовместимые и органические материалы
- Мультиферроические явления и магнитоэлектрическая связь
- Интерфейсная и доменная инженерия
- Сегнетоэлектрики, пьезоэлектрики и ионные проводники
- 1D и 2D наноструктурированные материалы
- Теория, моделирование и обработка данных
На конференции мы будем представлять Атомно-силовые микроскопы Park Systems:
АТОМНО-СИЛОВОЙ МИКРОСКОП NX10
АСМ бесконтактного типа с длительным сроком службы наконечника (зонда) и сканированием поверхности образца, не нарушающим его целостность.
АТОМНО-СИЛОВОЙ МИКРОСКОП PARK NX20
Самый точный АСМ в мире для анализа крупных образцов, поэтому он получил широкое распространение в индустрии жестких дисков и полупроводников.
АТОМНО-СИЛОВОЙ МИКРОСКОП PARK XE15
Инструмент для лабораторий, работающих с различными образцами, специализирующихся на выявлении дефектов в подложках.
АТОМНО-СИЛОВОЙ МИКРОСКОП PARK XE7
Высокотехнологичный микроскоп обеспечивает выполнение точных измерений с наноразрешением. Он отображает мельчайшие характеристики образцов.
БИОЛОГИЧЕСКИЙ ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ МИКРОСКОП PARK NX-BIO
Инструмент 3-в-1, который уникально объединяет СИПМ и АСМ с инвертированным оптическим микроскопом.
Будем рады видеть вас в числе посетителей нашего стенда!