Сканирующие электронные микроскопы обзорного типа REWIEV SEM

Сканирующие электронные микроскопы данного типа являются полностью кастомизируемыми и конечное исполнение зависит от требований заказчика и конкретного применения.

• Конический объектив на 60° (для обзора больших образцов)
• Возможность исполнения на основе 6 или - оптики для долгого обзора под высоким вакуумом
• Высокая скорость сканирования
• Высокое разрешение (до 8192×6144 пикселей)
• Многозадачный графический пользовательский интерфейс
• Мощный пакет измерительного ПО

Доступно две кастомизируемых модификации обзорных систем:

1. SEM на основе Lab6 электронной пушки: Lab6 электронная пушка представляет собой обновленную систему, находящуюся примерно между FEG эмиттером и вольфрамовым филаментом. Основным преимуществом филамента Lab6 является относительная стабильность испускания электронов по сравнению с другими полевыми эмиссионными SEM (FE-SEM), что обеспечивает более высокие значения токов при более низких температурах катодов по сравнению с вольфрамовыми источниками. Это означает, что данный SEM предоставляет изображения более высокой яркости, более высокого разрешения во всем диапазоне ускоряющих напряжений, а также увеличивается срок службы самого катода. Данный тип электронной пушки является идеальным выбором в тех областях, в которых необходимо проводить исследования при больших токах.
2. SEM на основе FE-SEM оптики: Для получения изображений с высоким разрешением также предлагается модификация эмиттера с автоэмиссионным типом Шоттки. Особенно популярными направлениями для такого типа эмиттеров являются полупроводниковая промышленность, производство плоскопанельных дисплеев и солнечных элементов.

При создании микроскопов обзорного типа Вы также можете дополнить систему такими компонентами, как:

• Кастомизируемая электронно-лучевая оптика и измерительные камеры
• Автоматическая система загрузки
• Высокоточный столик с перемещением по различным осям
• Наноманипуляторы