Атомно-силовые микроскопы NanoMagnetics Instruments
- XY диапазон сканирования: 24-битный и 5, 10, 40, 100 мкм
- Z диапазон сканирования: 24-битный 2,4,6,8,12,15 мкм
- Разрешение: 0,01 нм
- Линеаризованное сканирование по всем осям с оптическими датчиками
- Диапазон сканирования: 120x120x40 мкм или 40x40x4 мкм
- Встроенный оптический микроскоп с разрешением: 2 мкм
- Размер образца: 10x10x5 мм
- Широкий выбор сканирующих режимов
- Диапазон сканирования: 120x120x40 мкм или 40x40x4 мкм
- Z разрешение: 0.2 нм или 0.02 нм
- Размер образца: 10x10x5 мм
- XY разрешение: в зависимости от наконечника, стандартно - 5 нм или 2 нм
- Диапазон сканирования: 0,5x0,5x0,2 мкм или 1x1x0,5 мкм
- Z разрешение: 0,5 пм
- Режимы отображения постоянной высоты и постоянного тока
- XY разрешение: 1 пм
Низкотемпературные сканирующие зондовые микроскопы
- Размер образца: 15 х 15 х 5 мм (макс.)
- Волоконный интерферометр шума: 15 фм / √Гц
- Диапазон температур: 20 мК - 300 К (зависит от криостата)
- Магнитное поле: 16 Т (в зависимости от магнита)
- Рабочее давление: до 1E-6 мбар
- Размер образца: 15 х 15 х 5 мм (макс.)
- Размеры головки: 23,6 мм или 25,4 мм наружного диаметра
- Диапазон температур: 10 мК - 400 К для LT-SHPM (ограничен криостатом)
- Магнитное поле: > 16 Тл
- Тип: прилипание-скольжение
- Размер образца: 15 х 15 х 5 мм (макс.)
- Размеры головки: 23,6 мм или 25,4 мм наружного диаметра
- Диапазон температур: 10 мК - 400 К для LT-SHPM (ограничен криостатом)
- Магнитное поле: > 16 Тл
- Тип: прилипание-скольжение