Портативный атомно-силовой микроскоп EZAFM+

EzAFM+ - это компактная система атомно-силовой микроскопии, которая обеспечивает высокое разрешение. ezAFM + можно легко установить и использовать всего за несколько минут. ezAFM + может использоваться для любых наук, таких как материаловедение, биология, химия, физика, авиакосмическая промышленность. Многие предприятия, университеты и даже средние школы используют ezAFM +. 

Вся минимальная система ezAFM + должна включать в себя один из выбранных режимов сканирования (опционально до 9 режимов сканирования), 5 необходимых консолей, головку сканера, устройство виброизоляции и ноутбук. С самого начала подключаются кабель питания, 2 USB-кабеля и кабель головки, а для запуска измерений открывается удобное программное обеспечение. Весь процесс установки программного обеспечения выполняется нашими специалистами по прикладным программам ezAFM.

Гибкая конструкция ezAFM + позволяет легко заменять / перемещать сканирующую головку, заменять консоли и образцы удобным для пользователя способом. В большинстве АСМ необходима перенастройка лазера и фотодиода после замены кантилевера. ezAFM + предлагает конструкцию, в которой проблема «повторного выравнивания» решена. После установки кантилевера в систему ezAFM + консоль будет автоматически настроена без каких-либо регулировок для воздуха или жидких сред. 

EzAFM + обеспечивает удобство использования для исследователей, и при размерах 25 x 25 см легко помещается в перчаточные боксы. Поскольку ezAFM+ не занимает много места и не тяжелый, его можно легко транспортировать.

NanoMagnetics Instruments предлагает две разные сканирующие головки для ezAFM +. ezAFM120 имеет максимальную область сканирования до 120x120x40um. Этот вариант является лучшим решением для образцов с шероховатой поверхностью и обеспечивает разрешение 0,2 нм. Максимальная область сканирования ezAFM40 составляет 40x40x4um, а разрешение 0,02 нм позволяет сканировать однослойный графен.

• Сканирующая туннельная микроскопия (ezSTM)
• Жидкая ячейка

• Модуль сигнала доступа
• Механизированный позиционер образца с ходом XY 38 мм 
• Ручной позиционер образца XY 2 мм

• Прерывистый контакт / Фазовая томография / Фазовый контраст
• Силовая микроскопия с зондом Кальвина (KPFM)
• Боковая силовая микроскопия (LFM)
• Проводящий АСМ (c-AFM)
• Электростатическая силовая микроскопия (EFM)
• Несколько режимов спектроскопии
• Режим контакта / Статическая сила
• Силовая модуляция
• Магнитно-силовая микроскопия (MFM)
• Сканирующая рассеивающая микроскопия (SSRM)
• Пьезореспонсная силовая микроскопия (PRFM)
• Режимы литографии и манипуляции
• Жидкостные режимы