I-V спектроскопия

Используя кантилевер в качестве контакта (масштаб нанометры), I-V спектроскопия обеспечивает построение кривой тока (I) как функции напряжения смещения наконечника (V), приложенного к образцу.

Для изучения электрических свойств поверхности образца I/V спектроскопия используется на выбранном участке образца поле получения его изображения.

Микроскопы, работающие в режиме I-V спектроскопии:

  • Двумерный консольный сканер с диапазоном сканирования 100 мкм × 100 мкм
  • Консольный Z-сканер высокого усилия
  • Удобное крепление головки SLD по направляющей
  • Множественный зажим
  • Моторизированный предметный столик XY
Запрос цены
  • Самый оснащенный и универсальный АСМ
  • Сканирующий диапазон: 50 мкм × 50 мкм (10 мкм × 10 мкм, 100 мкм × 100 мкм)
  • Бесконтактный режим True Non-Contact
  • Длительный срок службы зонда, высочайшее разрешение
  • Точное латеральное сканирование XY в режиме «Crosstalk Elimination» (устранение помех)
  • Точная топография АСМ с применением малошумного Z-детектора
Запрос цены
  • Двумерный консольный сканер с диапазоном сканирования 10 мкм × 10 мкм
  • Консольный Z-сканер высокого усилия
  • Удобное крепление головки SLD по направляющей
  • Удобный держатель образца
  • Предметный столик XY с ручным управлением
Запрос цены