Спектроскопия пьезоэлектрического отклика

При спектроскопии пьезоэлектрического отклика пользователь может создавать массив из сигналов ПСМ в зависимости от измерений спектроскопии смещения на различных участках. Спектроскопия позволяет получить информацию по характеру локальных разворотов пьезоэлектрических доменов и измерить абсолютное значение пьезоэлектрической постоянной.

Микроскопы, работающие в режиме спектроскопии пьезоэлектрического отклика:

  • Двумерный консольный сканер с диапазоном сканирования 100 мкм × 100 мкм
  • Консольный Z-сканер высокого усилия
  • Удобное крепление головки SLD по направляющей
  • Множественный зажим
  • Моторизированный предметный столик XY
Узнать цену
  • Консольный одномодульный XY-сканер с замкнутым контуром управления
  • Сканирующий диапазон: 50 мкм × 50 мкм (дополнительно 10 мкм × 10 мкм, 100 мкм × 100 мкм)
  • Идеальный выбор для исследований в области нанотехнологий
  • Достоверность данных
  • Высокая производительность
Узнать цену
  • Двумерный консольный сканер с диапазоном сканирования 10 мкм × 10 мкм
  • Консольный Z-сканер высокого усилия
  • Удобное крепление головки SLD по направляющей
  • Удобный держатель образца
  • Предметный столик XY с ручным управлением
Узнать цену