Сканирующая туннельная спектроскопия (STS)

Сканирующая туннельная спектроскопия

Используя кантилевер сканирующей туннельной микроскопии в качестве контакта (масштаб нанометры), сканирующая туннельная спектроскопия (СТС) обеспечивает построение кривой тока (I) как функции напряжения смещения наконечника (V), приложенного к образцу.

Для изучения электрических свойств поверхности образца I/V спектроскопия измеряется на выбранном участке образца поле получения его изображения СТМ.

Данные по спектроскопии можно использовать для изучения локального электронного состояния образца.

Микроскопы, работающие в режиме сканирующей туннельной спектроскопии (STS):

  • Самый оснащенный и универсальный АСМ
  • Сканирующий диапазон: 50 мкм × 50 мкм (10 мкм × 10 мкм, 100 мкм × 100 мкм)
  • Бесконтактный режим True Non-Contact
  • Длительный срок службы зонда, высочайшее разрешение
  • Точное латеральное сканирование XY в режиме «Crosstalk Elimination» (устранение помех)
  • Точная топография АСМ с применением малошумного Z-детектора
Узнайте цену
  • Двумерный консольный сканер с диапазоном сканирования 10 мкм × 10 мкм
  • Консольный Z-сканер высокого усилия
  • Удобное крепление головки SLD по направляющей
  • Удобный держатель образца
  • Предметный столик XY с ручным управлением
Узнайте цену