
Технология SICM, позволяющая объединить атомно-силовую микроскопию со сканирующей ион-проводящей микроскопией на одном устройстве
Технология SICM для атомно-силового микроскопа NX10 компании Park Systems позволяет применять данный микроскоп в широком диапазоне:
- Клеточная биология
- Получение морфологических изображений
- Нано-биопсия
- Инъекции - Аналитическая химия
- Получение изображений протекания электрохимических реакций за счет интеграции сканирующей электрохимической микроскопии - Электрофизиология
- Ионное детектирование
- Пэтч-клемпинг - Изучение нейронов
- Получение изображений высокого разрешения одного нейрона за счет интеграции пэтч-клемпинга
Технология SICM
Полностью неинвазивный метод получения изображений
Наше специализированное программное обеспечение для автоматического получения изображения делает процесс сканирования простым и более точным
Дистанционная токовая спектроскопия (I-D спектроскопия)
Простая установка и управление
Возможность интеграции SICM модуля с микроскопом NX10 компании Park Systems позволяет исследователям расширить их область применений и с легкостью получать изображения наномасштабов в жидких средах.
SICM модуль
Высокоскоростной Z-сканер
Данный сканер управляется высокосильным пьезоэлектрическим приводом и имеет диапазон перемещений 15 мкм и высокую резонансную частоту 9 кГц.
Сенсоры положения Z-сканера с низким уровнем шума
Наш детектор обладает самым низким уровнем шумов во всей смежной области АСМ и позволяет получать высокоточные изображения поверхности наномасштабов. Эта особенность дает возможность получения топографии без необходимости калибровки.
Низкий уровень ионного шума в усилителе тока
Внутренний усилитель тока обеспечивает оптимальные условия обработки сигнала для точной записи пикоамперных значений тока.
Держатель нано-пипеток для SICM головки
Кейс Фарадея для стабильной работы в режиме SICM
- Измерение электрических, магнитных, температурных и механических свойств в нанометровом масштабе
- Метод сканирования на основе микропипеток
- Диапазон сканирования в плоскости XY: 100 × 100 мкм
- Доступно сканирование АСМ головкой или SICM модулем
- Различные режимы измерения: бесконтактный режим, полуконтактный режим, PinPoint режим и т.д.
- Функция устранения перекрестных помех
- Лучшая в отрасли скорость и линейность Z-сервопривода
- Плоское ортогональное сканирование по XY без изгиба сканера
- Автоматическое считывание кантилеверов
- Автоматическая смена кантилеверов
- Автоматическая настройка лазера
- Бесконтактный режим анализа True Non-Contact
- Самый оснащенный и универсальный АСМ
- Сканирующий диапазон: 50 мкм × 50 мкм (10 мкм × 10 мкм, 100 мкм × 100 мкм)
- Бесконтактный режим True Non-Contact
- Длительный срок службы зонда, высочайшее разрешение
- Точное латеральное сканирование XY в режиме «Crosstalk Elimination» (устранение помех)
- Точная топография АСМ с применением малошумного Z-детектора





