Атомно-силовой микроскоп Park ХЕ7

  • Экономичный выбор для инновационных исследований
  • Бескомпромиссная производительность 
  • Park XE7 сделает Вашу работу высокопроизводительной сегодня и завтра.
  • Простота эксплуатации и высокая производительность
  • Экономический эффект выше затрат

Производитель Park Systems

Особенности

  • Двумерный консольный сканер с диапазоном сканирования 10 мкм × 10 мкм
  • Консольный Z-сканер высокого усилия
  • Удобное крепление головки SLD по направляющей
  • Удобный держатель образца
  • Предметный столик XY с ручным управлением
  • Оптическая столик с ручным управлением
  • Управление электроникой Park XE с панелью DSP в контроллере

Экономичный выбор для инновационных исследований
Park XE7 является высокотехнологичным микроскопом, разработан компанией Park Systems. Обладая возможностями более дорогих моделей, ХЕ7 позволяет выполнить исследование своевременно и в рамках бюджета.

Бескомпромиссная производительность 
Park XE7 обеспечивает выполнение точных измерений с наноразрешением. Он выдает изображения и отображает мельчайшие характеристики образцов благодаря плоскому, ортогональному и линейному сканирующим измерениям, предусмотренным уникальной АСМ архитектурой: раздельными сканерами XY и Z консольного типа. Более того, уникальный режим True Non-ContactTM обеспечивает Вас самыми четкими изображениями, скан за сканом без снижения разрешения.

Сегодня и завтра
Park XE7 сделает Вашу работу высокопроизводительной сегодня и завтра. Он предоставляет готовый доступ к большому количеству режимов измерений промышленного уровня. Вы можете использовать любой из этих режимов уже сейчас, с заделом на будущее. Кроме того, ХЕ7 располагает наиболее открытой архитектурой среди микроскопов, предлагаемых на рынке, которая позволяет интегрировать и сочетать принадлежности и инструменты при выполнении уникального исследования.

Простота эксплуатации и высокая производительность
Park ХЕ7 с удобным графическим интерфейсом и автоматизированными инструментами позволяет даже новичкам быстро разместить образец и получить требуемый скан. Установка зонда, простота замены образца и наконечника (зонда), удобство настройки лазера, эргономичные органы управления сканированием и обработка в программном приложении – все это позволяет ХЕ7  работать с максимальной продуктивностью.

Экономичный эффект выше затрат
Park ХЕ7 – это не только самый доступный исследовательский инструмент АСМ, но и самый экономичный микроскоп с точки зрения стоимости владения. Режим Park True Non-ContactTM , применяемый в ХЕ7, позволяет оператору экономить деньги на приобретение дорогостоящих зондов. АСМ имеет более длительный срок службы и более высокую обновляемость за счет отличной совместимости с широким набором режимов и опций, предлагаемых в промышленности.

Преимущества

Точное латеральное сканирование XY в режиме «Crosstalk Elimination» (устранение помех)

  • Два независимых консольных сканера XY и Z с обратной связью для сканирования поверхности образца с использованием зонда.
  • Плоское и ортогональное сканирование XY с малым остаточным искажением.
  • Очень высокое разрешение в плоскости с возможностью обнаружения сигнала менее 2нм во всем диапазоне сканирования.
  • Точное измерение высоты без необходимости в дополнительной программной обработке.

Длительный срок службы зонда, высочайшее разрешение и отсутствие повреждений на поверхности образца в режиме True Non-ContactTM

  • Скорость сервопривода Z оси в 10 раз выше по сравнению с пьезотрубкой другого АСМ.
  • Минимальный износ зонда, гарантия получения высококачественного изображения с высоким разрешением в течение длительного периода времени.
  • Минимальное нарушение или изменение поверхности образца.
  • Независимость от параметров среды в отличие от полуконтактного метода получения изображения.
Режим True Non-ContactTM Полуконтактное изображение
  • Ниже износ зонда = длительное сканирование высокого разрешения
  • Неразрушающий контакт зонд-образец = минимальное нарушение образца
  • Невосприимчивость к параметрам измерений (при получении результатов)
  • Быстрый износ зонда = размытое сканирование низкого качества
  • Разрушающее образец взаимодействие зонд-образец = нарушение и изменение поверхности образца
  • Высокая зависимость от параметров измерений

Режим True Non-ContactТМ сохраняет четкость показаний зонда

Наконечники (зонды) АСМ настолько хрупкие, что при их контакте с образцом происходит мгновенное снижение разрешения и качества изображения. При работе с мягкими и тонкими образцами зонд может повредить образец, это приведет к неточности измерений высоты профиля, повлечет рост затрат времени и денег. Уникальный режим True Non-ContactТМ АСМ существенно увеличивает разрешение и точность полученных данных при сохранении целостности самого образца.

Режимы работы

Поддержка наиболее широкого диапазона режимов SPM и опций в промышленности

Современные исследователи нуждаются в изучении широкого диапазона физических свойств при соблюдении точности условий измерения и окружающей среды. Park Systems поддерживает наиболее широкий диапазон режимов SPM, значительное количество опций АСМ, полную совместимость и обновляемость в индустрии для современного изучения образцов. 

Стандартное изображение

Химические свойства*

Температурные свойства*

Электрические свойства*

Оптические свойства*

Магнитные свойства*

Диэлектрические/пьезоэлектрические свойства*

Механические свойства*

Силовое измерение*

* Опционально

Технологии AFM

Технические характеристики

Сканер Латеральный сканер XY Z сканер
Консольный одномодульный XY-сканер с замкнутым контуром управления
Сканирующий диапазон: 100 мкм x 100 мкм (50 мкм x 50 мкм или 10 мкм x 10 мкм)
Направляющий силовой Z-сканер
Сканирующий диапазон: 12мкм (дополнительно 25 мкм)
Обзор
Прямой осевой обзор поверхности образца и кантилевер
В сборе с линзой объектива 10× (линза с 20-кратным увеличением предлагается дополнительно)
Область обзора: 480 × 360 мкм
ПЗС: 1 Мегапиксель
Программа XEP XEI
Контроль системы и программа получения данных
Регулируемые параметры обратной связи в режиме реального времени
Управление скриптами с помощью внешних программ (дополнительно)
Программа для анализа данных АСМ (работает совместно с ОС Windows, Mac OS X, Linux)
Электроника
  Высокопроизводительный DSP: 600 МГц, 4800 MIPS
Не более 16 изображений с данными
Максимальный размер данных: 4096×4096 пикселей
Входы сигналов: 20 каналов 16-битных ADC на частоте 500 кГц
Выходы сигналов: 21 канал 16-битных DAC на частоте 500 кГц
Сигнал синхронизации: конец изображения, конец линии, конец пиксельных сигналов TTL
Активный Q-контроль (дополнительно)
Постоянная калибровка пружины кантилевера (дополнительно)
Соответствие СЕ
Мощность: 120 Вт
Модуль доступа сигнала (дополнительно)
Дополнительные принадлежности
Электрохимический элемент
Универсальный жидкостный элемент с температурным управлением
Предметные столики с температурным управлением
Генератор магнитного поля
Предметный столик
Ход столика XY: 13 мм x 13 мм, моторизированный (200 мм x 200 мм – дополнительно)
Ход столика вдоль оси Z: 29,5 мм
Диапазон перемещения фокусировки: 70 мм
Крепление образца
  Размер образца: до 100 мм
Толщина: до 20 мм 

Размеры в мм

Программное обеспечение Park SmartScan