Рентгеновский микроскоп nanoVoxel-2000

  • Обнаружительная способность, мкм: 0.2/0.04
  • Максимальное пространственное разрешение системы томографии, мкм: 3/0.5
  • Возможность установки рентгеновской трубки с двойной головкой (микрофокус, нанофокус): Нет
  • Максимальное напряжение на рентгеновской трубке, кВ: 180

Производитель Sanying Precision Instruments

Описание

Уникальная система nanoVoxel-2000 — единственная на рынке система томографии, совмещенная с рентгеновским микроскопом. Томограф может быть опционально оснащен уникальным дополнительным модулем, состоящим из сцинтиллятора, который преобразовывает рентгеновские кванты в видимый свет системы увеличения с детектором. Это позволяет томографу выполнять функции рентгеновского микроскопа. Система увеличения оснащена револьверным механизмом для возможности установки увеличения на 2, 4, 10 или 20 крат. Данное решение позволяет улучшить разрешение с 500 до 50 нм. Корпус томографа предусматривает размещение крупногабаритных образцов. Размеры корпуса могут быть опционально увеличены для образцов большего размера.

Основные преимущества

  • разрешение объектов контроля от 50 нм благодаря специальному модулю с преобразованием и увеличением;
  • возможность использования прибора в качестве рентгеновского микроскопа и рентгеновского томографа;
  • возможность проведения метрологических измерений образцов;
  • самый низкий предел допускаемой абсолютной погрешности при измерении линейных размеров среди всех систем, представленных на рынке (5 + L / 100 мкм, где L — длина объекта в мм);
  • возможность установки рентгеновской трубки с высоким напряжением (до 160 кВ);
  • специализированное ПО для 4D-томографии изделий (динамическое 3D-сканирование с разбивкой по времени для отображения изменений в образце), которое позволяет визуализировать процессы сжатия, растяжения, температурных испытаний и движения изделия.

Применение

  • измерение толщины стенок изделий с целью проведения метрологических исследований;
  • исследование причин неисправностей и отказов готовых изделий;
  • анализ пустот и включений в геологических объектах и изделиях из металлов, сплавов, и композитов;
  • контроль целостности и правильности сборки готового изделия на конечном этапе производства и при входном контроле; 
  • исследование изменений плотности материалов изделий (по поверхности, глубине и т. д. в металлах, стеклах и пр.) после различных процессов термообработки;
  • сравнение 3D-сканирования изделия с исходной моделью, созданной в САПР (CAD);
  • обратный инжиниринг для создания САПР-модели (CAD-модели) по результатам томографии реального образца;
  • моделирование различных испытаний (механических, тепловых, аэродинамических и т. д.) с математической обработкой методом конечных элементов;
  • контроль качества сварных и паяных соединений;
  • исследование структур геологических образцов для контроля различных фаз, литотипов, коллекторов;
  • исследование петрофизических свойств горных пород;
  • исследование плотности, пористости, однородности, изотропности и других характеристик геологических образцов.

Характеристики

  • Обнаружительная способность, мкм: 0.2/0.04
  • Максимальное пространственное разрешение системы томографии, мкм: 3/0.5
  • Возможность установки рентгеновской трубки с двойной головкой (микрофокус, нанофокус): Нет
  • Максимальное напряжение на рентгеновской трубке, кВ: 180
  • Размер активной области детектора, мм: 244 × 195
  • Разрешение матрицы детектора, пикс.: 1920 × 1536
  • Шаг пикселя детектора, мкм: 7,4; 49,5; 85; 100; 127; 139
  • Максимальный размер образца, мм (диаметр × высота): 400 × 300
  • Максимальная масса образца, кг: 15
  • Соблюдение норм радиационной безопасности при работе с ИИИ: Менее 1 мкЗв/ч на расстоянии 10 см от поверхности томографа
  • Габариты томографа (Д × Ш × В), мм: 1620 × 1100 × 1700
  • Вес, кг: 2400
  • Материал: Бетон, Керамика, Композитные материалы, Металлы, Нефтяной керн, Пластики, Руда