Свежие записи
14 ноября 2019

Автор: ВикторРаздел: Атомно-силовая микроскопия

28 августа 2019

Автор: ВикторРаздел: Атомно-силовая микроскопия

12 августа 2019

Автор: ВикторРаздел: Рамановская спектроскопия (спектроскопия комбинационного рассеяния)

Подписка на новые статьи


Нажимая кнопку «Подписаться», вы принимаете условия «Соглашения на обработку персональных данных».

Блог — Спектроскопия

Автор: ВикторРаздел: Спектроскопия

Влияние развития методов выращивания кристаллов на современные технологии часто недооценивается. Мы используем продукты, изготовленные на кристаллических структурах, каждый день в наших электронных устройствах. Новые приложения для монокристаллов появляются постоянно, поскольку устаревшие исчезают в виду технического прогресса.

Читать далее
Автор: ВикторРаздел: Спектроскопия

В данной статье представлены примеры применений ЯМР спектрометров компании Spinlock Анализ поступающего многофазного потока в нефтегазовой промышленности.

Читать далее
Автор: ВикторРаздел: Спектроскопия

В данной статье продемонстрирована возможность точной оценки количества никотина, сахара и хлоридов в табаке с помощью портативного спектрофотометра i-Spec Plus со встроенным хемометрическим программным обеспечением компании B&W Tek, работающего по принципу ИК-спектроскопии диффузного отражения.

Читать далее
Автор: ВикторРаздел: Спектроскопия

Новая волоконно-оптическая система i-Spec 22, представляющая собой широкополосный спектрофотометр компании B&W Tek, использовалась в качестве полевого инструмента для анализа смазочных материалов с предоставлением возможности контроля их состояния непосредственно в ходе прямой эксплуатации.

Читать далее
Автор: ВикторРаздел: Спектроскопия

В зависимости от спектральных характеристик непрерывные CW лазеры классифицируются как имеющие несколько продольных мод или одну продольную моду (SLM). В зависимости от длины резонатора, используемых фильтров и прочих параметров, как диодные, так и DPSS лазеры могут обладать SLM или не SLM спектральными характеристиками.

Читать далее
Автор: ВикторРаздел: Спектроскопия

Такие сплавы лития, как Li-Al и Li-Mg, широко используются во многих отраслях промышленности. Для производителей различных сплавов измерение концентраций алюминия (в Li-Al) и магния (в Li-Mg) является неотъемлемым шагом этапа производства и контроля качества.

Читать далее
Автор: ВикторРаздел: Спектроскопия

На сегодняшний день 48 стран и организаций сотрудничают друг с другом в области фармацевтической инспекции (PIC/S) для улучшения фармацевтических стандартов и правил. Национальные органы контроля начали разрабатывать политику для PIC/S, которая включает, среди прочего, 1005-ую проверку и инспекцию всего входящего сырья для фармакологического производства.

Читать далее
Автор: ВикторРаздел: Спектроскопия

Для исследования различных космических явлений и других планет к современным телескопам прикреплены астрономические спектрографы. Эти астрономические спектрографы обычно калибруются с помощью торий-аргоновых ламп или йодированных поглощающих ячеек.

Читать далее

Компактные спектрометры, использующие ПЗС-детекторы и оптоволокно для ввода излучения, используются во многих спектроскопических применениях. Исторически сложилось, что одним из ограничений был плохой предел обнаружения. На применениях с низким уровнем света, например, рамановской и флуоресцентной спектроскопии, данный недостаток сказывался особенно сильно.

Читать далее

Одежда, постельное белье и мягкие игрушки обычно изготавливают из хлопка, полиэстера, шелка и других текстильных материалов. Так как одни материалы становятся значительно дешевле других, мы часто сталкиваемся с подделками, поскольку производители используют смесь хлопка и полиэстера вместо...

Читать далее

Мониторинг плазмы может иметь большое значение при исследовании высокотемпературных процессов. В не зависимости от того, занимаетесь ли Вы лазерной гравировкой, используете плазму для химического осаждения или занимаетесь лазерной эмиссионной спектроскопией, спектрометры...

Читать далее

Модульные спектрометры УФ, видимого и ИК диапазонов спектра на протяжении многих лет использовались для измерения тонких пленок на поверхности. Например, измеряя отражение/пропускание на поверхности кремниевой пластины, мы можем рассчитать конструктивную и деструктивную интерференцию и вычислить толщину пленки вплоть до нескольких ангстрем (до нескольких слоев).

Читать далее