Свежие записи
13 ноября 2018

Автор: ВикторРаздел: Атомно-силовая микроскопия

07 ноября 2018

Автор: ГалинаРаздел: Анализ микроструктуры материалов

10 сентября 2018

Автор: ВикторРаздел: Рамановская спектроскопия (спектроскопия комбинационного рассеяния)

30 августа 2018

Автор: ВикторРаздел: Рамановская спектроскопия (спектроскопия комбинационного рассеяния)

09 июля 2018

Автор: ВикторРаздел: Атомно-силовая микроскопия

Подписка на новые статьи


Нажимая кнопку «Подписаться», вы принимаете условия «Соглашения на обработку персональных данных».

Блог — Атомно-силовая микроскопия

В данной статье измерение методом PFM выполняется с использованием нового разработанного режима PinPoint компании Park System с целью предоставления положительных отличий от обычного контактного режима. Сравнение производительности обычной PFM и PinPoint PFM проводилось при измерении отожженной фенантреновой пленки.

Читать далее

В последние годы понимание электрохимических процессов, таких как электроосаждение, стало важным аспектом в различных технологических и научных приложениях, включая микроэлектронику, нанобиологические системы, преобразование солнечной энергии и другие применения химической отрасли, благодаря широкому спектру возможностей данного метода. Процесс электроосаждения сокращает количество катионов и способствует осаждению частиц на поверхность проводящей подложки.

Читать далее

Атомно-силовая микроскопия (АСМ) предлагает простой, эффективный и неразрушающий альтернативный метод контроля для анализа различных видов поверхностей структурированных объектов как на этапах контроля сапфировых подложек, так и на конечной стадии готовых LED.

Читать далее

В современную эру цифровых устройств магнитные хранилища жизненно важны, поскольку применяются во всевозможных сферах и приборах, включая компьютеры, мобильные телефоны, серверы данных и т.п. Способность магнитных хранилищ хранить большое количество информации на маленькой площади, оставаясь при этом недорогими и доступными, делает их наиболее привлекательными, по сравнению с другими устройствами хранения высокой плотности.

Читать далее

В данной статье описано исследование новых наноэлектронных устройств с вакуумными каналами с помощью емкостной сканирующей микроскопии (SCM) на атомно-силовом микроскопе NX20, чтобы продемонстрировать его возможности как нового и универсального решения в данной области исследований. Исследуемый образец имел свой собственный «сток-исток» интерфейс, а область сканирования составляла 450х800 нм.

Читать далее