Свежие записи
08 октября 2020

Автор: ВикторРаздел: Спектроскопия

29 июня 2020

Автор: ВикторРаздел: Рамановская спектроскопия (спектроскопия комбинационного рассеяния)

Подписка на новые статьи


Нажимая кнопку «Подписаться», вы принимаете условия «Соглашения на обработку персональных данных».

Блог — Атомно-силовая микроскопия

В данной статье демонстрируется исследование двух различных образцов с помощью атомно-силового микроскопа NX-Hivac компании Park Systems и показывается преимущество высокого вакуума для измерений в режимах C-AFM и SSRM. Результаты показывают улучшенную чувствительность и разрешение при измерениях в условиях высокого вакуума по сравнению с измерениями на воздухе.

Читать далее

Исследование показало, что сканирующая микроскопия сопротивления растеканию (SSRM) и сканирующая емкостная микроскопия (SCM) могут решить проблемы двумерного профилирования носителей заряда в современных электронных устройствах, имеющих характерные структуры размерами порядка 10 нм, при условии выбора правильного инструмента для анализа.

Читать далее

В данной прикладной статье демонстрируется электрохимический процесс, называемый анодным окислением, с использованием метода нанолитографии с приложением напряжения смещения для создания оксидных рисунков на поверхности кремниевой подложки.

Читать далее

Атомно-силовой микроскоп модели NX-Hivac компании Park Systems позволяет инженерам и исследователям по анализу отказов электронных компонентов и устройств повысить чувствительность и разрешение своих измерений с помощью различных видов электрической сканирующей микроскопии, среди которых хорошо зарекомендовавшие себя режимы сканирующей микроскопии с сопротивлением растекания (SSRM) и проводящей атомно-силовой микроскопии (C-AFM) в высоком вакууме.

Читать далее

В этой статье рассматривается топография и адгезионные свойства пробиотиков, чтобы определить форму бактерии, которая хорошо прикрепляется к толстой кишке. Исследования проводились на основе анализа коммерчески доступных пробиотиков с использованием наномеханического режима PinPoint для атомно-силовой микроскопии (АСМ) от компании Park Systems.

Читать далее

Данное исследование демонстрирует пригодность фазовой визуализации для характеристики тонких полимерных пленок. Фазовые изображения высокого разрешения, полученные в эксперименте, показывают значительные изменения поверхности тонких пленок полимера после того, как они подверглись нагреву и приложению напряжения смещения.

Читать далее

В ходе данной работы мы продемонстрировали использование режима атомно-силового микроскопа нанолитографии для создания наноразмерных структур оксида на кремниевой подложке с использованием системы Park NX10. В процессе АСМ нанолитографии использовался метод с напряжением смещения.

Читать далее

В данной статье мы покажем, как стабилизировать усиленный резонансом пьезоотклик с помощью дополнительной обратной связи, которая отслеживает контактный резонанс во время PFM сканирования в методике, называемой двухчастотным резонансным отслеживанием (DFRT).

Читать далее

В процессе сохранения клеточных образцов фиксация клетки играет важную роль для широкого спектра биологических исследований. Чтобы определить важность этой процедуры, был проведен сравнительный анализ между живыми и зафиксированными клетками с использованием методов сканирующей зондовой микроскопии (SPM), таких как атомно-силовая микроскопия (АСМ) и сканирующая ион-проводящая микроскопия (SICM).

Читать далее

Полимерный структурированный массив был успешно исследован с помощью атомно-силового микроскопа NX10 компании Park Systems с использованием FM-KPFM и AM-KPFM методов. Анализируя полученные результаты, можно утверждать, что FM-KPFM метод с частотной модуляцией как минимум на один порядок величины чувствительнее стандартного AM-KPFM метода с амплитудной модуляцией.

Читать далее