Свежие записи
28 августа 2019

Автор: ВикторРаздел: Атомно-силовая микроскопия

12 августа 2019

Автор: ВикторРаздел: Рамановская спектроскопия (спектроскопия комбинационного рассеяния)

05 июня 2019

Автор: ВикторРаздел: Атомно-силовая микроскопия

Подписка на новые статьи


Нажимая кнопку «Подписаться», вы принимаете условия «Соглашения на обработку персональных данных».

Блог — Атомно-силовая микроскопия

В данной работе были измерены 4 различных материала с отличающимися диапазонами модуля упругости. Полученные результаты в каждом из измерений согласуются с номинальным значением модуля упругости для каждого материала, доказывая отличную применимость режима PinPoint для количественного анализа механических свойств.

Читать далее

В данной работе продемонстрированы преимущества проведения электрических измерений в условиях высокого вакуума с помощью атомно-силового микроскопа NX-Hivac компании Park Systems.

Читать далее

В данной статье было продемонстрировано влияние изменения поверхностного потенциала на ВПЭТ транзистор в закрытом состоянии, приводящее, в конечном итоге, к отказу устройства.

Читать далее

В данной статье показана надежность бесконтактного режима анализа True Non-Contact атомно-силовых микроскопов компании Park Systems для измерения шероховатости и отображения топографии поверхности до долей нм. А также, наглядно продемонстрировано, почему для измерения шероховатости поверхности требуются острота кантилевера и низкий уровень шумов системы.

Читать далее

В данной статье демонстрируется использование горизонтальной пьезоэлектрической силовой микроскопии для анализа дефектов и отказов многослойного керамического конденсатора. Этот метод позволяет определять характеристики пьезоэлектрических доменов в диэлектрике конденсатора в наномасштабе.

Читать далее