Свежие записи
13 ноября 2018

Автор: ВикторРаздел: Атомно-силовая микроскопия

07 ноября 2018

Автор: ГалинаРаздел: Анализ микроструктуры материалов

10 сентября 2018

Автор: ВикторРаздел: Рамановская спектроскопия (спектроскопия комбинационного рассеяния)

30 августа 2018

Автор: ВикторРаздел: Рамановская спектроскопия (спектроскопия комбинационного рассеяния)

09 июля 2018

Автор: ВикторРаздел: Атомно-силовая микроскопия

Подписка на новые статьи


Нажимая кнопку «Подписаться», вы принимаете условия «Соглашения на обработку персональных данных».

Измерение толщины тонких пленок с помощью спектрометра Exemplar

Измерение толщины тонких пленок
ИЮН152015

Модульные спектрометры УФ, видимого и ИК диапазонов спектра на протяжении многих лет использовались для измерения тонких пленок на поверхности. Например, измеряя отражение/пропускание на поверхности кремниевой пластины, мы можем рассчитать конструктивную и деструктивную интерференцию и вычислить толщину пленки вплоть до нескольких ангстрем (до нескольких слоев). Современные CCD спектрометры являются идеальным инструментом в данной области благодаря их высокой скорости сканирования и широкому диапазону применений в различных сферах за счет использования оптоволокна для взятия проб.

ПЗС-спектрометры серии Exemplar отличаются такими характерными особенностями, которые позволяют производить измерение толщины тонких пленок быстро, легко и с высокой точностью. Они позволяют Вам осуществлять запуск с ультракороткой задержкой в 35 нс со значением джиттера ± 5 нс, а также обладают временем интегрирования всего в 1 мс. Для ОЕМ применений, миниспектрометры Exemplar отличаются своей быстротой, повторяемостью и предоставляют возможность разработки программного обеспечения под Ваши нужды.

Cпектрометр для измерения пленок  

Ключевые преимущества спектрометров серии Exemplar:

  • Ультракороткая задержка в 35 нс со значением джиттера ± 5 нс
  • Очень короткое время интегрирования (1 мс; BRC115P)
  • USB0 интерфейс для более высокой скорости передачи данных
  • Встроенный процессор для обработки результатов прямо на приборе
  • Возможность синхронизации с несколькими устройствами (до 32) без дополнительных программ
  • Пакет ПО, позволяющий производить разработку приложений для конкретных применений (Set Development Kit)

Набор для спектрометров серии Exemplar для контроля тонких пленок

Спектроскопия тонких пленок  

Для того чтобы производить высококачественные измерения всего за несколько секунд, Вам потребуется:

Подробные характеристики ПЗС спектрометра серии Exemplar
Предыдущая статья
ИЮН152015

Автор: ВладимирРаздел: Спектроскопия

Следующая статья
ИЮН012015

Автор: ВладимирРаздел: Рамановская спектроскопия (спектроскопия комбинационного рассеяния)