Блог

МАР122020

Ручной спектрометр NanoRam-1064 является эффективным инструментом для снижения влияние флуоресценции при анализе материалов, получаемых из растительных компонентов, позволяя проводить их легкую верификацию при входном контроле поступающего сырья.

ДЕК162019

Время жизни неосновных носителей заряда является одним из ключевых параметров качества полупроводникового материала и, следовательно, производительности устройства. Время жизни очень чувствительно ко всем видам электрических дефектов в материале, таких как примеси и кристаллографические дефекты, дислокации и т.п.

ДЕК052019

Время жизни неосновных носителей заряда является ключевым параметром, например, для оценки работоспособности солнечных элементов. Поэтому данный параметр является подходящим критерием для классификации кремниевых подложек по качеству. MDP метод позволяет проводить исследования с непревзойденной комбинацией пространственного разрешения, чувствительности и скорости, что делает его предпочтительным инструментом для крупных линий производства.

НОЯ142019

Полимерный структурированный массив был успешно исследован с помощью атомно-силового микроскопа NX10 компании Park Systems с использованием FM-KPFM и AM-KPFM методов. Анализируя полученные результаты, можно утверждать, что FM-KPFM метод с частотной модуляцией как минимум на один порядок величины чувствительнее стандартного AM-KPFM метода с амплитудной модуляцией.

ОКТ182019

В данной статье представлен новейший метод, разработанный компанией Park Systems под названием «Наномеханический режим PinPoint™», который позволяет исследовать механические свойства поверхности. Кроме того, здесь описывается, как этот метод можно использовать для анализа этапов, на которых возникают дефекты во время обработки поверхности материала, особенно в процессе нанесения покрытия.

ОКТ112019

Влияние развития методов выращивания кристаллов на современные технологии часто недооценивается. Мы используем продукты, изготовленные на кристаллических структурах, каждый день в наших электронных устройствах. Новые приложения для монокристаллов появляются постоянно, поскольку устаревшие исчезают в виду технического прогресса.

ОКТ092019

С помощью атомно-силового микроскопа NX-Hivac в режиме точечной сканирующей микроскопии сопротивления растекания (PinPoint SSRM) был определен ряд важных свойств электрода литий-ионной батареи.

СЕН102019

В данной работе были измерены 4 различных материала с отличающимися диапазонами модуля упругости. Полученные результаты в каждом из измерений согласуются с номинальным значением модуля упругости для каждого материала, доказывая отличную применимость режима PinPoint для количественного анализа механических свойств.

АВГ282019

В данной работе продемонстрированы преимущества проведения электрических измерений в условиях высокого вакуума с помощью атомно-силового микроскопа NX-Hivac компании Park Systems.

АВГ122019

Анализ минеральных фаз в тонких шлифах горных пород с помощью рамановской микроскопии позволяет преодолеть проблемы оптической идентификации, которые возникают при анализе очень мелкозернистых включений (размерами менее 100 мкм), а также при измерении непрозрачных минеральных фаз.