Свежие записи
24 декабря 2025

Автор: ГалинаРаздел: Анализ микроструктуры материалов

12 мая 2022

Автор: ГалинаРаздел: Анализ микроструктуры материалов

20 апреля 2022

Автор: ГалинаРаздел: Анализ микроструктуры материалов

14 апреля 2022

Автор: Раздел: Атомно-силовая микроскопия

28 марта 2022

Автор: ГалинаРаздел: Анализ микроструктуры материалов

09 февраля 2022

Автор: ВикторРаздел: Атомно-силовая микроскопия

24 января 2022

Автор: ВикторРаздел: Атомно-силовая микроскопия

Подписка на новые статьи

Блог

Анализ текстильной промышленности на примере исследования наносвойств полиэстера в силикагеле

Добавление нанотехнологий в текстильную промышленность помогает разрабатывать материалы нового поколения, которые могут найти широкое применение в будущем. Понимание свойств и характеристик новых материалов, интегрированных в структуру существующих текстильных матриц...

Читать далее

Исследование топографии различных органических объектов в жидких растворах с помощью технологии SICM на АСМ NX10

Иногда, для того, чтобы определить и понять главную проблему, а затем разработать метод ее решения, необходимо исследовать объект в естественных условиях. Некоторые современные технологии и применения часто сталкиваются с подобными задачами.

Читать далее

Анализ топографии и модуля Юнга нитевидной целлюлозы с помощью атомно-силовой микроскопии

Углеродные нанотрубки (УНТ) являются популярным объектом для исследований и применяются в различных областях. Однако их очень сложно изготавливать в большом количестве. В результате исследователи начали поиск альтернативных материалов с похожими свойствами.

Читать далее

Исследование электрических свойств полупроводниковых устройств с помощью SCM и SKPM методов на атомно-силовом микроскопе

Полупроводниковые устройства являются основной составляющей современных электронных продуктов благодаря их способности образовывать электрические схемы на основе транзисторов, диодов и интегральных схем, которые широко используются во многих сферах производства (например, аналоговые и цифровые компоненты компьютеров).

Читать далее

Анализ кремниевых подложек диаметром 300 мм на наличие дефектов после травления с помощью технологии ADR АСМ компании Park Systems

Подложки из монокристаллического кремния являются важным элементом в полупроводниковой промышленности. При изготовлении подложек методом Чохральского получаются высококачественные монокристаллические структуры с определенными дефектами, которые формируются в процессе роста кристалла или при дальнейшей обработке.

Читать далее
Автор: ВикторРаздел: Спектроскопия

Исследование астрофизических явлений с помощью частотных оптических гребенок

Для исследования различных космических явлений и других планет к современным телескопам прикреплены астрономические спектрографы. Эти астрономические спектрографы обычно калибруются с помощью торий-аргоновых ламп или йодированных поглощающих ячеек.

Читать далее

Контроль и измерение толщины контактных линз и оптических элементов

Существует большое количество разнообразных контактных линз и оптических элементов. И на сегодняшний день просто невозможно представить себе человечество без их использования. Но для правильной работы этих элементов и, особенно для нормального функционирования глаза, необходимо...

Читать далее

Определение фальсифицированной молочной продукции с помощью рамановских спектрометров

На сегодняшний день в условиях санкций и сложившейся экономической обстановки явно наблюдается нехватка качественной молочной продукции. В связи с этим наше правительство принимает соответствующие меры по наладке производства собственной молочной продукции.

Читать далее