Автор: ВикторРаздел: Атомно-силовая микроскопия
Автор: ВикторРаздел: Атомно-силовая микроскопия
Автор: ВикторРаздел: Рамановская спектроскопия (спектроскопия комбинационного рассеяния)
Автор: ВикторРаздел: Рамановская спектроскопия (спектроскопия комбинационного рассеяния)
Автор: ВикторРаздел: Спектроскопия
Автор: ВикторРаздел: Спектроскопия
Автор: ВикторРаздел: Атомно-силовая микроскопия
Автор: ВикторРаздел: Атомно-силовая микроскопия
Автор: ВикторРаздел: Атомно-силовая микроскопия
Нажимая кнопку «Подписаться», вы принимаете условия «Соглашения на обработку персональных данных».
Блог — Тонкие пленки
Тонкие пленки играют все более важную роль в современном обществе. Структурирование и формирование рельефа тонкого слоя с помощью селективной лазерной абляции является одной из ключевых технологий в производстве дисплеев и фотоэлектрических элементов. Двумя основными аспектами тонких пленок являются образование тонкой пленки и структурирование или модификация тонкой пленки. Поэтому лазерное излучение, благодаря его пространственной фокусируемости и временной управляемости, все чаще используется для структурирования и модификации тонких пленок.
Читать далее