Автор: ГалинаРаздел: Анализ микроструктуры материалов
Автор: ГалинаРаздел: Анализ микроструктуры материалов
Автор: ГалинаРаздел: Спектроскопия
Автор: ГалинаРаздел: Анализ микроструктуры материалов
Автор: ГалинаРаздел: Анализ микроструктуры материалов
Автор: Раздел: Атомно-силовая микроскопия
Автор: ГалинаРаздел: Анализ микроструктуры материалов
Автор: ВикторРаздел: Атомно-силовая микроскопия
Автор: ВикторРаздел: Атомно-силовая микроскопия
Автор: ВикторРаздел: Атомно-силовая микроскопия
Нажимая кнопку «Подписаться», вы принимаете условия «Соглашения на обработку персональных данных».
Блог — Спектроскопия
Мониторинг плазмы может иметь большое значение при исследовании высокотемпературных процессов. В не зависимости от того, занимаетесь ли Вы лазерной гравировкой, используете плазму для химического осаждения или занимаетесь лазерной эмиссионной спектроскопией, спектрометры...
Читать далее
Модульные спектрометры УФ, видимого и ИК диапазонов спектра на протяжении многих лет использовались для измерения тонких пленок на поверхности. Например, измеряя отражение/пропускание на поверхности кремниевой пластины, мы можем рассчитать конструктивную и деструктивную интерференцию и вычислить толщину пленки вплоть до нескольких ангстрем (до нескольких слоев).
Читать далее
