Поиск по блогу
Рубрики
Свежие записи
21 января 2026
Очистка городского воздуха под действием света: моделирование и масштабирование решений для удаления летучих органических соединений и оксидов азота.

Автор: ГалинаРаздел: Анализ микроструктуры материалов

24 декабря 2025
Тест на общее содержание взвешенных твердых частиц

Автор: ГалинаРаздел: Анализ микроструктуры материалов

22 декабря 2025
Анализ следовых количеств металлов методом кислотного разложения в открытом сосуде

Автор: ГалинаРаздел: Спектроскопия

12 мая 2022
Фильтрующие материалы на металлической основе

Автор: ГалинаРаздел: Анализ микроструктуры материалов

20 апреля 2022
Компания E-Spin Nanotech Pvt Ltd запатентовала технологию фильтрации воздуха на основе нановолокна

Автор: ГалинаРаздел: Анализ микроструктуры материалов

14 апреля 2022
Анализ проводящих сегнетоэлектрических доменных стенок

Автор: Раздел: Атомно-силовая микроскопия

28 марта 2022
Анализ состава косметической продукции методом спектроскопии диффузных волн (DWS)

Автор: ГалинаРаздел: Анализ микроструктуры материалов

22 марта 2022
Визуализация поверхностного потенциала с помощью силовой микроскопии с зондом Кельвина с боковой полосой частот

Автор: ВикторРаздел: Атомно-силовая микроскопия

09 февраля 2022
Измерения поверхностного потенциала двумерных материалов в высоком вакууме

Автор: ВикторРаздел: Атомно-силовая микроскопия

24 января 2022
МСМ метод для анализа Mn1.4PtSn: Исследование магнитных носителей для антискирмионов

Автор: ВикторРаздел: Атомно-силовая микроскопия

Подписка на новые статьи

Блог — Спектроскопия

ПЗС спектрометр для исследований плазмы
ИЮН152015
Автор: ВладимирРаздел: Спектроскопия

Использование спектрометра Exemplar для контроля плазмы

Мониторинг плазмы может иметь большое значение при исследовании высокотемпературных процессов. В не зависимости от того, занимаетесь ли Вы лазерной гравировкой, используете плазму для химического осаждения или занимаетесь лазерной эмиссионной спектроскопией, спектрометры...

Читать далее
Измерение толщины тонких пленок
ИЮН152015
Автор: ВладимирРаздел: Спектроскопия

Измерение толщины тонких пленок с помощью спектрометра Exemplar

Модульные спектрометры УФ, видимого и ИК диапазонов спектра на протяжении многих лет использовались для измерения тонких пленок на поверхности. Например, измеряя отражение/пропускание на поверхности кремниевой пластины, мы можем рассчитать конструктивную и деструктивную интерференцию и вычислить толщину пленки вплоть до нескольких ангстрем (до нескольких слоев).

Читать далее