Автор: ГалинаРаздел: Анализ микроструктуры материалов
Автор: ГалинаРаздел: Анализ микроструктуры материалов
Автор: ГалинаРаздел: Спектроскопия
Автор: ГалинаРаздел: Анализ микроструктуры материалов
Автор: ГалинаРаздел: Анализ микроструктуры материалов
Автор: Раздел: Атомно-силовая микроскопия
Автор: ГалинаРаздел: Анализ микроструктуры материалов
Автор: ВикторРаздел: Атомно-силовая микроскопия
Автор: ВикторРаздел: Атомно-силовая микроскопия
Автор: ВикторРаздел: Атомно-силовая микроскопия
Нажимая кнопку «Подписаться», вы принимаете условия «Соглашения на обработку персональных данных».
Атомно-силовая микроскопия (АСМ) предлагает простой, эффективный и неразрушающий альтернативный метод контроля для анализа различных видов поверхностей структурированных объектов как на этапах контроля сапфировых подложек, так и на конечной стадии готовых LED.
Читать далееВ современную эру цифровых устройств магнитные хранилища жизненно важны, поскольку применяются во всевозможных сферах и приборах, включая компьютеры, мобильные телефоны, серверы данных и т.п. Способность магнитных хранилищ хранить большое количество информации на маленькой площади, оставаясь при этом недорогими и доступными, делает их наиболее привлекательными, по сравнению с другими устройствами хранения высокой плотности.
Читать далееВ данной статье описано исследование новых наноэлектронных устройств с вакуумными каналами с помощью емкостной сканирующей микроскопии (SCM) на атомно-силовом микроскопе NX20, чтобы продемонстрировать его возможности как нового и универсального решения в данной области исследований. Исследуемый образец имел свой собственный «сток-исток» интерфейс, а область сканирования составляла 450х800 нм.
Читать далееОсновываясь на непревзойденных физических свойствах оксида цинка и стремлении к миниатюризации элементной базы, были приложены большие усилия для синтеза, характеризации и разработки сфер применения наноматериалов на основе ZnO. В результате, широкий ассортимент наноструктур, таких, как нанопровода, нанотрубки, нанокольца и нано-тетраподы успешно выращивается с помощью различных методов, включая химическое осаждение из газовой фазы, термическое испарение, электролитическое осаждение и прочие. Данные структуры подвергались процессам электрического переноса, УФ облучения, газового зондирования и ферромагнитного легирования, в которых был достигнут значительных прогресс.
Читать далееСканирующая микроскопия с зондом Кельвина (SKPM) была представлена как метод для измерения локальной разницы потенциалов между проводящим наконечником кантилевера для атомно-силовой микроскопии (АСМ) и поверхностью исследуемого образца.
Читать далееНеобходимость измерения свойств поверхности различных материалов все чаще становится неотъемлемым требованием во многих применениях и областях, таких как производство полупроводниковых устройств и контроль структуры биологических образцов. Существует несколько методов атомно-силовой...
Читать далееДобавление нанотехнологий в текстильную промышленность помогает разрабатывать материалы нового поколения, которые могут найти широкое применение в будущем. Понимание свойств и характеристик новых материалов, интегрированных в структуру существующих текстильных матриц...
Читать далееИногда, для того, чтобы определить и понять главную проблему, а затем разработать метод ее решения, необходимо исследовать объект в естественных условиях. Некоторые современные технологии и применения часто сталкиваются с подобными задачами.
Читать далееУглеродные нанотрубки (УНТ) являются популярным объектом для исследований и применяются в различных областях. Однако их очень сложно изготавливать в большом количестве. В результате исследователи начали поиск альтернативных материалов с похожими свойствами.
Читать далееПолупроводниковые устройства являются основной составляющей современных электронных продуктов благодаря их способности образовывать электрические схемы на основе транзисторов, диодов и интегральных схем, которые широко используются во многих сферах производства (например, аналоговые и цифровые компоненты компьютеров).
Читать далее
