Свежие записи
14 ноября 2019

Автор: ВикторРаздел: Атомно-силовая микроскопия

28 августа 2019

Автор: ВикторРаздел: Атомно-силовая микроскопия

12 августа 2019

Автор: ВикторРаздел: Рамановская спектроскопия (спектроскопия комбинационного рассеяния)

Подписка на новые статьи


Нажимая кнопку «Подписаться», вы принимаете условия «Соглашения на обработку персональных данных».

Блог — Спектроскопия

Автор: ВикторРаздел: Спектроскопия

Время жизни неосновных носителей заряда является ключевым параметром, например, для оценки работоспособности солнечных элементов. Поэтому данный параметр является подходящим критерием для классификации кремниевых подложек по качеству. MDP метод позволяет проводить исследования с непревзойденной комбинацией пространственного разрешения, чувствительности и скорости, что делает его предпочтительным инструментом для крупных линий производства.

Читать далее
Автор: ВикторРаздел: Спектроскопия

Влияние развития методов выращивания кристаллов на современные технологии часто недооценивается. Мы используем продукты, изготовленные на кристаллических структурах, каждый день в наших электронных устройствах. Новые приложения для монокристаллов появляются постоянно, поскольку устаревшие исчезают в виду технического прогресса.

Читать далее
Автор: ВикторРаздел: Спектроскопия

В данной статье представлены примеры применений ЯМР спектрометров компании Spinlock Анализ поступающего многофазного потока в нефтегазовой промышленности.

Читать далее
Автор: ВикторРаздел: Спектроскопия

В данной статье продемонстрирована возможность точной оценки количества никотина, сахара и хлоридов в табаке с помощью портативного спектрофотометра i-Spec Plus со встроенным хемометрическим программным обеспечением компании B&W Tek, работающего по принципу ИК-спектроскопии диффузного отражения.

Читать далее
Автор: ВикторРаздел: Спектроскопия

Новая волоконно-оптическая система i-Spec 22, представляющая собой широкополосный спектрофотометр компании B&W Tek, использовалась в качестве полевого инструмента для анализа смазочных материалов с предоставлением возможности контроля их состояния непосредственно в ходе прямой эксплуатации.

Читать далее
Автор: ВикторРаздел: Спектроскопия

В зависимости от спектральных характеристик непрерывные CW лазеры классифицируются как имеющие несколько продольных мод или одну продольную моду (SLM). В зависимости от длины резонатора, используемых фильтров и прочих параметров, как диодные, так и DPSS лазеры могут обладать SLM или не SLM спектральными характеристиками.

Читать далее
Автор: ВикторРаздел: Спектроскопия

Такие сплавы лития, как Li-Al и Li-Mg, широко используются во многих отраслях промышленности. Для производителей различных сплавов измерение концентраций алюминия (в Li-Al) и магния (в Li-Mg) является неотъемлемым шагом этапа производства и контроля качества.

Читать далее
Автор: ВикторРаздел: Спектроскопия

На сегодняшний день 48 стран и организаций сотрудничают друг с другом в области фармацевтической инспекции (PIC/S) для улучшения фармацевтических стандартов и правил. Национальные органы контроля начали разрабатывать политику для PIC/S, которая включает, среди прочего, 1005-ую проверку и инспекцию всего входящего сырья для фармакологического производства.

Читать далее
Автор: ВикторРаздел: Спектроскопия

Для исследования различных космических явлений и других планет к современным телескопам прикреплены астрономические спектрографы. Эти астрономические спектрографы обычно калибруются с помощью торий-аргоновых ламп или йодированных поглощающих ячеек.

Читать далее