Автор: ГалинаРаздел: Анализ микроструктуры материалов
Автор: ГалинаРаздел: Анализ микроструктуры материалов
Автор: ГалинаРаздел: Спектроскопия
Автор: ГалинаРаздел: Анализ микроструктуры материалов
Автор: ГалинаРаздел: Анализ микроструктуры материалов
Автор: Раздел: Атомно-силовая микроскопия
Автор: ГалинаРаздел: Анализ микроструктуры материалов
Автор: ВикторРаздел: Атомно-силовая микроскопия
Автор: ВикторРаздел: Атомно-силовая микроскопия
Автор: ВикторРаздел: Атомно-силовая микроскопия
Нажимая кнопку «Подписаться», вы принимаете условия «Соглашения на обработку персональных данных».
Блог
В этом тематическом исследовании для определения красителей, использованных в марках на историческом конверте 1885 года, используется портативный рамановский спектрометр i-Raman EX.
Читать далееТонкие пленки играют все более важную роль в современном обществе. Структурирование и формирование рельефа тонкого слоя с помощью селективной лазерной абляции является одной из ключевых технологий в производстве дисплеев и фотоэлектрических элементов. Двумя основными аспектами тонких пленок являются образование тонкой пленки и структурирование или модификация тонкой пленки. Поэтому лазерное излучение, благодаря его пространственной фокусируемости и временной управляемости, все чаще используется для структурирования и модификации тонких пленок.
Читать далееДанное исследование демонстрирует пригодность фазовой визуализации для характеристики тонких полимерных пленок. Фазовые изображения высокого разрешения, полученные в эксперименте, показывают значительные изменения поверхности тонких пленок полимера после того, как они подверглись нагреву и приложению напряжения смещения.
Читать далееВ ходе данной работы мы продемонстрировали использование режима атомно-силового микроскопа нанолитографии для создания наноразмерных структур оксида на кремниевой подложке с использованием системы Park NX10. В процессе АСМ нанолитографии использовался метод с напряжением смещения.
Читать далееПомимо того, что полупроводник является источником ТГц импульсов для систем спектроскопии во временной области, ТГц-генерация на поверхностях полупроводников также может быть ценным инструментом для исследования различных характеристик самого полупроводника.
Читать далееВ данной статье мы покажем, как стабилизировать усиленный резонансом пьезоотклик с помощью дополнительной обратной связи, которая отслеживает контактный резонанс во время PFM сканирования в методике, называемой двухчастотным резонансным отслеживанием (DFRT).
Читать далееВ данной статье объясняется, как распределение размеров пор хирургических защитных масок и респираторов может быть измерено с использованием метода сканирующего давления, газовым жидкостным порометром POROLUX ™ 100.
Читать далееТрековые мембраны представляют собой тонкие полимерные материалы с четко определенной структурой пор, созданные путем облучения частицами или ионами известного размера / или путем химического травления. Эти процессы позволяют тщательно контролировать размер и плотность пор мембраны.
Читать далееВ приборе сканирующего давления 2 поры одинакового диаметра, но с различной извилистостью подвержены разной кинетике открывания пор и, следовательно, они будут открываться в разное время. Поскольку давление постоянно увеличивается, это означает, что они будут открываться при разном давлении.
Читать далееВ процессе сохранения клеточных образцов фиксация клетки играет важную роль для широкого спектра биологических исследований. Чтобы определить важность этой процедуры, был проведен сравнительный анализ между живыми и зафиксированными клетками с использованием методов сканирующей зондовой микроскопии (SPM), таких как атомно-силовая микроскопия (АСМ) и сканирующая ион-проводящая микроскопия (SICM).
Читать далее







