Благодаря своим ферромагнитным свойствам и правильно-ориентированной структуре вблизи поверхности раздела при комнатной температуре, пленка MnAs на подложке GaAs является одной из наиболее перспективных систем для будущих спинтронных устройств.

Контроль качества химико-механического полирования (СМР) с помощью усовершенствованного атомно-силового профилометра

ДЕК212018

Автор: ВикторРаздел: Атомно-силовая микроскопия

Контроль качества химико-механического полирования (СМР) с помощью усовершенствованного атомно-силового профилометра

Во время химико-механического полирования металла слои металлов меди или вольфрама истощаются, что приводит к образованию дефектов поверхности. Атомно-силовая микроскопия становится одним из необходимых инструментов в полупроводниковой промышленности с целью контроля таких дефектных результатов обработки.

ДЕК172018

Автор: ВикторРаздел: Атомно-силовая микроскопия

Анализ плазмида в жидкости бесконтактным методом с помощью атомно-силовой микроскопии

Структура образца плазмида была успешно охарактеризована с помощью атомно-силового микроскопа NX10 компании Park Systems с использованием бесконтактного метода сканирования в жидкости в режиме True Non-Contact.

Спектроскопия поверхностного фотонапряжения (фото-ЭДС)

ДЕК142018

Автор: ВикторРаздел: Атомно-силовая микроскопия

Спектроскопия поверхностного фотонапряжения (фото-ЭДС)

Способность понять и теоретически контролировать как электронные, морфологические и химические несоответствия вместе играют синергетическую роль в работе устройств из ZnO, должна быть первоочередной во всех текущих исследованиях ZnO в качестве электронного материала. Существует несколько методик, которые позволяют рассмотреть одно или два из этих свойств на ограниченном масштабе.

Преимущества анализа на уровне наномасштабов с помощью атомно-силовых микроскопов серии NX компании Park Systems

ДЕК142018

Автор: ВикторРаздел: Атомно-силовая микроскопия

Преимущества анализа на уровне наномасштабов с помощью атомно-силовых микроскопов серии NX компании Park Systems

Цель всех видов микроскопии – предоставить возможность увидеть более мелкие объекты и их детали и характеристики, которые нельзя увидеть без вспомогательных устройств. Естественно, что ход научного исследования требует, чтобы мы в результате исследовали абсолютные пределы имеющихся методик метрологии и атомно-силовая микроскопия (АСМ) не является исключением.

Анализ повреждения волос под воздействием солнечного света с помощью атомно-силового микроскопа

ДЕК072018

Автор: ВикторРаздел: Атомно-силовая микроскопия

Анализ повреждения волос под воздействием солнечного света с помощью атомно-силового микроскопа

С помощью атомно-силового микроскопа NX20 компании Park Systems и простого в использовании и эргономичного программного обеспечения SmartScan могут быть получены изображения волос для сравнения топографии поверхности на наноуровне до и после длительного воздействия солнечным светом.

Анализ методом пьезоэлектрической силовой микроскопии в режиме PinPoint

НОЯ132018

Автор: ВикторРаздел: Атомно-силовая микроскопия

Анализ методом пьезоэлектрической силовой микроскопии в режиме PinPoint

В данной статье измерение методом PFM выполняется с использованием нового разработанного режима PinPoint компании Park System с целью предоставления положительных отличий от обычного контактного режима. Сравнение производительности обычной PFM и PinPoint PFM проводилось при измерении отожженной фенантреновой пленки.

Количественная оценка табачных компонентов с помощью ИК-спектроскопии диффузного отражения

СЕН192018

Автор: ВикторРаздел: Спектроскопия

Количественная оценка табачных компонентов с помощью ИК-спектроскопии диффузного отражения

В данной статье продемонстрирована возможность точной оценки количества никотина, сахара и хлоридов в табаке с помощью портативного спектрофотометра i-Spec Plus со встроенным хемометрическим программным обеспечением компании B&W Tek, работающего по принципу ИК-спектроскопии диффузного отражения.

Быстрый анализ наркотических веществ (таблеток экстези) в полевых условиях с помощью TacticID-1064

СЕН102018

Автор: ВикторРаздел: Рамановская спектроскопия (спектроскопия комбинационного рассеяния)

Быстрый анализ наркотических веществ (таблеток экстези) в полевых условиях с помощью TacticID-1064

Новый ручной рамановский спектрометр TacticID-1064 компании B&W Tek оснащен лазером с длиной волны 1064 нм, что позволяет получать на нем четкие характерные спектры MDMA и других синтетических компонентов, содержащихся в цветных таблетках экстези.

Рамановская спектроскопия пропускания для онлайн мониторинга однородности состава фармацевтических препаратов

АВГ302018

Автор: ВикторРаздел: Рамановская спектроскопия (спектроскопия комбинационного рассеяния)

Рамановская спектроскопия пропускания для онлайн мониторинга однородности состава фармацевтических препаратов

Анализ однородности состава является важной задачей на любом фармацевтическом производстве. Традиционно для решения данной задачи использовалась высокоэффективная жидкостная хроматография, поскольку она отличается высокой чувствительностью и возможностью проведения измерений по всему объему таблетки. Однако анализ методом HPLC требует большого количества растворителей и других расходных материалов, а также зачастую на его выполнение уходит несколько часов.

Блог