В этом тематическом исследовании для определения красителей, использованных в марках на историческом конверте 1885 года, используется портативный рамановский спектрометр i-Raman EX.

Абляция тонкопленочных слоев с помощью лазеров с различными профилями пучка: энергоэффективность и коэффициент заполнения

ИЮН252020

Автор: ВикторРаздел: Тонкие пленки

Абляция тонкопленочных слоев с помощью лазеров с различными профилями пучка: энергоэффективность и коэффициент заполнения

Тонкие пленки играют все более важную роль в современном обществе. Структурирование и формирование рельефа тонкого слоя с помощью селективной лазерной абляции является одной из ключевых технологий в производстве дисплеев и фотоэлектрических элементов. Двумя основными аспектами тонких пленок являются образование тонкой пленки и структурирование или модификация тонкой пленки. Поэтому лазерное излучение, благодаря его пространственной фокусируемости и временной управляемости, все чаще используется для структурирования и модификации тонких пленок.

ИЮН182020

Автор: ВикторРаздел: Атомно-силовая микроскопия

Получение фазовых изображений высокого разрешения полимерной тонкой пленки, нанесенной на золото

Данное исследование демонстрирует пригодность фазовой визуализации для характеристики тонких полимерных пленок. Фазовые изображения высокого разрешения, полученные в эксперименте, показывают значительные изменения поверхности тонких пленок полимера после того, как они подверглись нагреву и приложению напряжения смещения.

ИЮН082020

Автор: ВикторРаздел: Атомно-силовая микроскопия

Наноразмерное структурирование материалов с использованием атомно-силовой микроскопии в режиме нанолитографии

В ходе данной работы мы продемонстрировали использование режима атомно-силового микроскопа нанолитографии для создания наноразмерных структур оксида на кремниевой подложке с использованием системы Park NX10. В процессе АСМ нанолитографии использовался метод с напряжением смещения.

ИЮН012020

Автор: ВикторРаздел: Спектроскопия

Определение верхних положений энергетических зон в полупроводниках с помощью ТГц спектроскопии

Помимо того, что полупроводник является источником ТГц импульсов для систем спектроскопии во временной области, ТГц-генерация на поверхностях полупроводников также может быть ценным инструментом для исследования различных характеристик самого полупроводника.

Стабилизация пьезоотклика для точной характеризации сегнетоэлектрического домена без перекрестных помех с помощью двухчастотного резонансного отслеживания

МАЯ132020

Автор: ВикторРаздел: Атомно-силовая микроскопия

Стабилизация пьезоотклика для точной характеризации сегнетоэлектрического домена без перекрестных помех с помощью двухчастотного резонансного отслеживания

В данной статье мы покажем, как стабилизировать усиленный резонансом пьезоотклик с помощью дополнительной обратной связи, которая отслеживает контактный резонанс во время PFM сканирования в методике, называемой двухчастотным резонансным отслеживанием (DFRT).

Определение характеристик защитных масок с помощью POROLUX 100

АПР092020

Автор: ВикторРаздел: Анализ микроструктуры материалов

Определение характеристик защитных масок с помощью POROLUX 100

В данной статье объясняется, как распределение размеров пор хирургических защитных масок и респираторов может быть измерено с использованием метода сканирующего давления, газовым жидкостным порометром POROLUX ™ 100.

АПР012020

Автор: ВикторРаздел: Анализ микроструктуры материалов

Анализ распределения пор трековых мембран по размерам

Трековые мембраны представляют собой тонкие полимерные материалы с четко определенной структурой пор, созданные путем облучения частицами или ионами известного размера / или путем химического травления. Эти процессы позволяют тщательно контролировать размер и плотность пор мембраны.

методика с пошаговой стабилизацией давления

МАР262020

Автор: ВикторРаздел: Анализ микроструктуры материалов

Почему методика с пошаговой стабилизацией давления лучше методики сканирующего давления для измерения полых волокон

В приборе сканирующего давления 2 поры одинакового диаметра, но с различной извилистостью подвержены разной кинетике открывания пор и, следовательно, они будут открываться в разное время. Поскольку давление постоянно увеличивается, это означает, что они будут открываться при разном давлении.

Измерение механических свойств живых и зафиксированных клеток с помощью атомно-силовой и сканирующей ион-проводящей микроскопии

МАР242020

Автор: ВикторРаздел: Атомно-силовая микроскопия

Измерение механических свойств живых и зафиксированных клеток с помощью атомно-силовой и сканирующей ион-проводящей микроскопии

В процессе сохранения клеточных образцов фиксация клетки играет важную роль для широкого спектра биологических исследований. Чтобы определить важность этой процедуры, был проведен сравнительный анализ между живыми и зафиксированными клетками с использованием методов сканирующей зондовой микроскопии (SPM), таких как атомно-силовая микроскопия (АСМ) и сканирующая ион-проводящая микроскопия (SICM).

Блог