Автор: ВикторРаздел: Атомно-силовая микроскопия
Автор: ВикторРаздел: Атомно-силовая микроскопия
Автор: ВикторРаздел: Рамановская спектроскопия (спектроскопия комбинационного рассеяния)
Автор: ВикторРаздел: Рамановская спектроскопия (спектроскопия комбинационного рассеяния)
Автор: ВикторРаздел: Спектроскопия
Автор: ВикторРаздел: Спектроскопия
Автор: ВикторРаздел: Атомно-силовая микроскопия
Автор: ВикторРаздел: Атомно-силовая микроскопия
Автор: ВикторРаздел: Атомно-силовая микроскопия
Нажимая кнопку «Подписаться», вы принимаете условия «Соглашения на обработку персональных данных».
Блог — Атомно-силовая микроскопия
Новый наномеханический режим PinPoint атомно-силового микроскопа NX10 является идеальным методом количественной оценки механических свойств на уровне наномасштабов, который к тому же позволяет продлить срок службы кантилевера.
Читать далееУглеродные нанотрубки привлекли значительный интерес научного сообщества и промышленности благодаря своим уникальный электрическим свойствам. УНТ могут вести себя как металлические или полупроводниковые материалы в зависимости от расположения их атомов, их хиральности, а также их размеров.
Читать далееТрехкоординатный 3D атомно-силовой микроскоп позволяет проводить усовершенствованное трехмерное сканирование как структур с изолированными линиями, так и структур с плотной упаковкой линий.
Читать далееОдним из методов производства структурированных наномассивов является использование масочных наношаблонов. В данном исследовании описывается анализ масочного наношаблона, изготовленного из сополимера PS‑b‑PMMA и анодного оксида алюминия.
Читать далееИспользование такой технологии, как атомно-силовая микроскопия (АСМ), в областях науки о жизни позволяет ученым начать исследования и раскрывать неизведанные тайны на уровне наномасштабов.
Читать далееБлагодаря своим ферромагнитным свойствам и правильно-ориентированной структуре вблизи поверхности раздела при комнатной температуре, пленка MnAs на подложке GaAs является одной из наиболее перспективных систем для будущих спинтронных устройств.
Читать далееВо время химико-механического полирования металла слои металлов меди или вольфрама истощаются, что приводит к образованию дефектов поверхности. Атомно-силовая микроскопия становится одним из необходимых инструментов в полупроводниковой промышленности с целью контроля таких дефектных результатов обработки.
Читать далееСтруктура образца плазмида была успешно охарактеризована с помощью атомно-силового микроскопа NX10 компании Park Systems с использованием бесконтактного метода сканирования в жидкости в режиме True Non-Contact.
Читать далееСпособность понять и теоретически контролировать как электронные, морфологические и химические несоответствия вместе играют синергетическую роль в работе устройств из ZnO, должна быть первоочередной во всех текущих исследованиях ZnO в качестве электронного материала. Существует несколько методик, которые позволяют рассмотреть одно или два из этих свойств на ограниченном масштабе.
Читать далееЦель всех видов микроскопии – предоставить возможность увидеть более мелкие объекты и их детали и характеристики, которые нельзя увидеть без вспомогательных устройств. Естественно, что ход научного исследования требует, чтобы мы в результате исследовали абсолютные пределы имеющихся методик метрологии и атомно-силовая микроскопия (АСМ) не является исключением.
Читать далее