Свежие записи
01 апреля 2020

Автор: ВикторРаздел: Анализ микроструктуры материалов

12 марта 2020

Автор: ВикторРаздел: Рамановская спектроскопия (спектроскопия комбинационного рассеяния)

14 ноября 2019

Автор: ВикторРаздел: Атомно-силовая микроскопия

Подписка на новые статьи


Нажимая кнопку «Подписаться», вы принимаете условия «Соглашения на обработку персональных данных».

Блог — Атомно-силовая микроскопия

С помощью атомно-силового микроскопа NX20 компании Park Systems и простого в использовании и эргономичного программного обеспечения SmartScan могут быть получены изображения волос для сравнения топографии поверхности на наноуровне до и после длительного воздействия солнечным светом.

Читать далее

В данной статье измерение методом PFM выполняется с использованием нового разработанного режима PinPoint компании Park System с целью предоставления положительных отличий от обычного контактного режима. Сравнение производительности обычной PFM и PinPoint PFM проводилось при измерении отожженной фенантреновой пленки.

Читать далее

В последние годы понимание электрохимических процессов, таких как электроосаждение, стало важным аспектом в различных технологических и научных приложениях, включая микроэлектронику, нанобиологические системы, преобразование солнечной энергии и другие применения химической отрасли, благодаря широкому спектру возможностей данного метода. Процесс электроосаждения сокращает количество катионов и способствует осаждению частиц на поверхность проводящей подложки.

Читать далее

Атомно-силовая микроскопия (АСМ) предлагает простой, эффективный и неразрушающий альтернативный метод контроля для анализа различных видов поверхностей структурированных объектов как на этапах контроля сапфировых подложек, так и на конечной стадии готовых LED.

Читать далее

В современную эру цифровых устройств магнитные хранилища жизненно важны, поскольку применяются во всевозможных сферах и приборах, включая компьютеры, мобильные телефоны, серверы данных и т.п. Способность магнитных хранилищ хранить большое количество информации на маленькой площади, оставаясь при этом недорогими и доступными, делает их наиболее привлекательными, по сравнению с другими устройствами хранения высокой плотности.

Читать далее

В данной статье описано исследование новых наноэлектронных устройств с вакуумными каналами с помощью емкостной сканирующей микроскопии (SCM) на атомно-силовом микроскопе NX20, чтобы продемонстрировать его возможности как нового и универсального решения в данной области исследований. Исследуемый образец имел свой собственный «сток-исток» интерфейс, а область сканирования составляла 450х800 нм.

Читать далее

Основываясь на непревзойденных физических свойствах оксида цинка и стремлении к миниатюризации элементной базы, были приложены большие усилия для синтеза, характеризации и разработки сфер применения наноматериалов на основе ZnO. В результате, широкий ассортимент наноструктур, таких, как нанопровода, нанотрубки, нанокольца и нано-тетраподы успешно выращивается с помощью различных методов, включая химическое осаждение из газовой фазы, термическое испарение, электролитическое осаждение и прочие. Данные структуры подвергались процессам электрического переноса, УФ облучения, газового зондирования и ферромагнитного легирования, в которых был достигнут значительных прогресс.

Читать далее

Сканирующая микроскопия с зондом Кельвина (SKPM) была представлена как метод для измерения локальной разницы потенциалов между проводящим наконечником кантилевера для атомно-силовой микроскопии (АСМ) и поверхностью исследуемого образца.

Читать далее

Необходимость измерения свойств поверхности различных материалов все чаще становится неотъемлемым требованием во многих применениях и областях, таких как производство полупроводниковых устройств и контроль структуры биологических образцов. Существует несколько методов атомно-силовой...

Читать далее

Добавление нанотехнологий в текстильную промышленность помогает разрабатывать материалы нового поколения, которые могут найти широкое применение в будущем. Понимание свойств и характеристик новых материалов, интегрированных в структуру существующих текстильных матриц...

Читать далее