Свежие записи
29 июня 2020

Автор: ВикторРаздел: Рамановская спектроскопия (спектроскопия комбинационного рассеяния)

09 апреля 2020

Автор: ВикторРаздел: Анализ микроструктуры материалов

01 апреля 2020

Автор: ВикторРаздел: Анализ микроструктуры материалов

Подписка на новые статьи


Нажимая кнопку «Подписаться», вы принимаете условия «Соглашения на обработку персональных данных».

Блог — Атомно-силовая микроскопия

Данное исследование демонстрирует пригодность фазовой визуализации для характеристики тонких полимерных пленок. Фазовые изображения высокого разрешения, полученные в эксперименте, показывают значительные изменения поверхности тонких пленок полимера после того, как они подверглись нагреву и приложению напряжения смещения.

Читать далее

В ходе данной работы мы продемонстрировали использование режима атомно-силового микроскопа нанолитографии для создания наноразмерных структур оксида на кремниевой подложке с использованием системы Park NX10. В процессе АСМ нанолитографии использовался метод с напряжением смещения.

Читать далее

В данной статье мы покажем, как стабилизировать усиленный резонансом пьезоотклик с помощью дополнительной обратной связи, которая отслеживает контактный резонанс во время PFM сканирования в методике, называемой двухчастотным резонансным отслеживанием (DFRT).

Читать далее

В процессе сохранения клеточных образцов фиксация клетки играет важную роль для широкого спектра биологических исследований. Чтобы определить важность этой процедуры, был проведен сравнительный анализ между живыми и зафиксированными клетками с использованием методов сканирующей зондовой микроскопии (SPM), таких как атомно-силовая микроскопия (АСМ) и сканирующая ион-проводящая микроскопия (SICM).

Читать далее

Полимерный структурированный массив был успешно исследован с помощью атомно-силового микроскопа NX10 компании Park Systems с использованием FM-KPFM и AM-KPFM методов. Анализируя полученные результаты, можно утверждать, что FM-KPFM метод с частотной модуляцией как минимум на один порядок величины чувствительнее стандартного AM-KPFM метода с амплитудной модуляцией.

Читать далее

В данной статье представлен новейший метод, разработанный компанией Park Systems под названием «Наномеханический режим PinPoint™», который позволяет исследовать механические свойства поверхности. Кроме того, здесь описывается, как этот метод можно использовать для анализа этапов, на которых возникают дефекты во время обработки поверхности материала, особенно в процессе нанесения покрытия.

Читать далее

С помощью атомно-силового микроскопа NX-Hivac в режиме точечной сканирующей микроскопии сопротивления растекания (PinPoint SSRM) был определен ряд важных свойств электрода литий-ионной батареи.

Читать далее

В данной работе были измерены 4 различных материала с отличающимися диапазонами модуля упругости. Полученные результаты в каждом из измерений согласуются с номинальным значением модуля упругости для каждого материала, доказывая отличную применимость режима PinPoint для количественного анализа механических свойств.

Читать далее

В данной работе продемонстрированы преимущества проведения электрических измерений в условиях высокого вакуума с помощью атомно-силового микроскопа NX-Hivac компании Park Systems.

Читать далее

В данной статье было продемонстрировано влияние изменения поверхностного потенциала на ВПЭТ транзистор в закрытом состоянии, приводящее, в конечном итоге, к отказу устройства.

Читать далее