Свежие записи
24 декабря 2025

Автор: ГалинаРаздел: Анализ микроструктуры материалов

12 мая 2022

Автор: ГалинаРаздел: Анализ микроструктуры материалов

20 апреля 2022

Автор: ГалинаРаздел: Анализ микроструктуры материалов

14 апреля 2022

Автор: Раздел: Атомно-силовая микроскопия

28 марта 2022

Автор: ГалинаРаздел: Анализ микроструктуры материалов

09 февраля 2022

Автор: ВикторРаздел: Атомно-силовая микроскопия

24 января 2022

Автор: ВикторРаздел: Атомно-силовая микроскопия

Подписка на новые статьи


Нажимая кнопку «Подписаться», вы принимаете условия «Соглашения на обработку персональных данных».

Блог

TacticID-1064 ST оснащен специальным программным и аппаратным обеспечением, предназначенным для измерения материалов как через прозрачные, так и через непрозрачные контейнеры и упаковку. Эти измерения «через барьер» устраняют необходимость в активном отборе проб потенциально опасных соединений, таких как фентанил, что приводит повышению безопасности оператора и сокращению времени ожидания четких результатов.

Читать далее

С ростом исследований микропластиков в последние годы стало критически важным расширить возможности исследовательских лабораторий по регулярному анализу химического состава микропластиков из проб окружающей среды. В этой статье мы рассмотрим использование портативной рамановской микроскопии для идентификации микропластика, извлеченного из поверхностных вод эстуария.

Читать далее
Автор: ВикторРаздел: Спектроскопия

Ученые из университета Лаваля недавно опубликовали статью о новой технологии изготовления поверхностных фотонных устройств на полимерах с использованием фемтосекундных лазеров среднего ИК диапазона. В данной статье рассматриваются основы и новые преимущества данного метода.

Читать далее
Автор: ВикторРаздел: Спектроскопия

Средний инфракрасный (средний ИК) диапазон спектра все еще незнаком для большинства пользователей лазеров, поскольку в этом диапазоне длин волн коммерчески доступно лишь несколько лазеров. Недавно были разработаны новые компактные и универсальные лазеры среднего инфракрасного диапазона, которые открыли новые возможности для инновационных приложений в промышленности, науке, здравоохранении и окружающей среде.

Читать далее
Автор: ВикторРаздел: Спектроскопия

Источником суперконтинуума (СК) обычно является импульсный лазер (в наносекундном, пикосекундном или фемтосекундном режиме), излучение которого преобразуется в оптический сигнал с очень широким спектром. По сравнению со стандартными освещающими широкополосными источниками света, такими как лампа, светодиод или даже солнце – лазерные источники суперконтинуума обладают одним из самых больших преимуществ: их излучение является направленными и, в некоторых случаях, когерентными.

Читать далее

В данной статье демонстрируется исследование двух различных образцов с помощью атомно-силового микроскопа NX-Hivac компании Park Systems и показывается преимущество высокого вакуума для измерений в режимах C-AFM и SSRM. Результаты показывают улучшенную чувствительность и разрешение при измерениях в условиях высокого вакуума по сравнению с измерениями на воздухе.

Читать далее

Исследование показало, что сканирующая микроскопия сопротивления растеканию (SSRM) и сканирующая емкостная микроскопия (SCM) могут решить проблемы двумерного профилирования носителей заряда в современных электронных устройствах, имеющих характерные структуры размерами порядка 10 нм, при условии выбора правильного инструмента для анализа.

Читать далее

В данной прикладной статье демонстрируется электрохимический процесс, называемый анодным окислением, с использованием метода нанолитографии с приложением напряжения смещения для создания оксидных рисунков на поверхности кремниевой подложки.

Читать далее

Атомно-силовой микроскоп модели NX-Hivac компании Park Systems позволяет инженерам и исследователям по анализу отказов электронных компонентов и устройств повысить чувствительность и разрешение своих измерений с помощью различных видов электрической сканирующей микроскопии, среди которых хорошо зарекомендовавшие себя режимы сканирующей микроскопии с сопротивлением растекания (SSRM) и проводящей атомно-силовой микроскопии (C-AFM) в высоком вакууме.

Читать далее

В этой статье рассматривается топография и адгезионные свойства пробиотиков, чтобы определить форму бактерии, которая хорошо прикрепляется к толстой кишке. Исследования проводились на основе анализа коммерчески доступных пробиотиков с использованием наномеханического режима PinPoint для атомно-силовой микроскопии (АСМ) от компании Park Systems.

Читать далее