Блог — Атомно-силовая микроскопия

ИЮН082020

В ходе данной работы мы продемонстрировали использование режима атомно-силового микроскопа нанолитографии для создания наноразмерных структур оксида на кремниевой подложке с использованием системы Park NX10. В процессе АСМ нанолитографии использовался метод с напряжением смещения.

МАЯ132020

В данной статье мы покажем, как стабилизировать усиленный резонансом пьезоотклик с помощью дополнительной обратной связи, которая отслеживает контактный резонанс во время PFM сканирования в методике, называемой двухчастотным резонансным отслеживанием (DFRT).

МАР242020

В процессе сохранения клеточных образцов фиксация клетки играет важную роль для широкого спектра биологических исследований. Чтобы определить важность этой процедуры, был проведен сравнительный анализ между живыми и зафиксированными клетками с использованием методов сканирующей зондовой микроскопии (SPM), таких как атомно-силовая микроскопия (АСМ) и сканирующая ион-проводящая микроскопия (SICM).

НОЯ142019

Полимерный структурированный массив был успешно исследован с помощью атомно-силового микроскопа NX10 компании Park Systems с использованием FM-KPFM и AM-KPFM методов. Анализируя полученные результаты, можно утверждать, что FM-KPFM метод с частотной модуляцией как минимум на один порядок величины чувствительнее стандартного AM-KPFM метода с амплитудной модуляцией.

ОКТ182019

В данной статье представлен новейший метод, разработанный компанией Park Systems под названием «Наномеханический режим PinPoint™», который позволяет исследовать механические свойства поверхности. Кроме того, здесь описывается, как этот метод можно использовать для анализа этапов, на которых возникают дефекты во время обработки поверхности материала, особенно в процессе нанесения покрытия.

ОКТ092019

С помощью атомно-силового микроскопа NX-Hivac в режиме точечной сканирующей микроскопии сопротивления растекания (PinPoint SSRM) был определен ряд важных свойств электрода литий-ионной батареи.

СЕН102019

В данной работе были измерены 4 различных материала с отличающимися диапазонами модуля упругости. Полученные результаты в каждом из измерений согласуются с номинальным значением модуля упругости для каждого материала, доказывая отличную применимость режима PinPoint для количественного анализа механических свойств.

АВГ282019

В данной работе продемонстрированы преимущества проведения электрических измерений в условиях высокого вакуума с помощью атомно-силового микроскопа NX-Hivac компании Park Systems.

ИЮЛ302019

В данной статье было продемонстрировано влияние изменения поверхностного потенциала на ВПЭТ транзистор в закрытом состоянии, приводящее, в конечном итоге, к отказу устройства.

ИЮЛ092019

В данной статье показана надежность бесконтактного режима анализа True Non-Contact атомно-силовых микроскопов компании Park Systems для измерения шероховатости и отображения топографии поверхности до долей нм. А также, наглядно продемонстрировано, почему для измерения шероховатости поверхности требуются острота кантилевера и низкий уровень шумов системы.