Свежие записи
23 октября 2020

Автор: ВикторРаздел: Спектроскопия

20 октября 2020

Автор: ВикторРаздел: Спектроскопия

08 октября 2020

Автор: ВикторРаздел: Спектроскопия

29 июня 2020

Автор: ВикторРаздел: Рамановская спектроскопия (спектроскопия комбинационного рассеяния)

Подписка на новые статьи


Нажимая кнопку «Подписаться», вы принимаете условия «Соглашения на обработку персональных данных».

Блог — Атомно-силовая микроскопия

В данной статье представлен новейший метод, разработанный компанией Park Systems под названием «Наномеханический режим PinPoint™», который позволяет исследовать механические свойства поверхности. Кроме того, здесь описывается, как этот метод можно использовать для анализа этапов, на которых возникают дефекты во время обработки поверхности материала, особенно в процессе нанесения покрытия.

Читать далее

С помощью атомно-силового микроскопа NX-Hivac в режиме точечной сканирующей микроскопии сопротивления растекания (PinPoint SSRM) был определен ряд важных свойств электрода литий-ионной батареи.

Читать далее

В данной работе были измерены 4 различных материала с отличающимися диапазонами модуля упругости. Полученные результаты в каждом из измерений согласуются с номинальным значением модуля упругости для каждого материала, доказывая отличную применимость режима PinPoint для количественного анализа механических свойств.

Читать далее

В данной работе продемонстрированы преимущества проведения электрических измерений в условиях высокого вакуума с помощью атомно-силового микроскопа NX-Hivac компании Park Systems.

Читать далее

В данной статье было продемонстрировано влияние изменения поверхностного потенциала на ВПЭТ транзистор в закрытом состоянии, приводящее, в конечном итоге, к отказу устройства.

Читать далее

В данной статье показана надежность бесконтактного режима анализа True Non-Contact атомно-силовых микроскопов компании Park Systems для измерения шероховатости и отображения топографии поверхности до долей нм. А также, наглядно продемонстрировано, почему для измерения шероховатости поверхности требуются острота кантилевера и низкий уровень шумов системы.

Читать далее

В данной статье демонстрируется использование горизонтальной пьезоэлектрической силовой микроскопии для анализа дефектов и отказов многослойного керамического конденсатора. Этот метод позволяет определять характеристики пьезоэлектрических доменов в диэлектрике конденсатора в наномасштабе.

Читать далее

В данной статье продемонстрирована возможность использования режима латеральной силовой микроскопии (LFM) с целью нахождения отличий по структурному составу компонентов в веществе, который основан на регистрации относительной разницы коэффициентов трения самих компонентов.

Читать далее

Новый наномеханический режим PinPoint атомно-силового микроскопа NX10 является идеальным методом количественной оценки механических свойств на уровне наномасштабов, который к тому же позволяет продлить срок службы кантилевера.

Читать далее

Углеродные нанотрубки привлекли значительный интерес научного сообщества и промышленности благодаря своим уникальный электрическим свойствам. УНТ могут вести себя как металлические или полупроводниковые материалы в зависимости от расположения их атомов, их хиральности, а также их размеров.

Читать далее