Свежие записи
14 ноября 2019

Автор: ВикторРаздел: Атомно-силовая микроскопия

28 августа 2019

Автор: ВикторРаздел: Атомно-силовая микроскопия

12 августа 2019

Автор: ВикторРаздел: Рамановская спектроскопия (спектроскопия комбинационного рассеяния)

Подписка на новые статьи


Нажимая кнопку «Подписаться», вы принимаете условия «Соглашения на обработку персональных данных».

Блог — Атомно-силовая микроскопия

Углеродные нанотрубки привлекли значительный интерес научного сообщества и промышленности благодаря своим уникальный электрическим свойствам. УНТ могут вести себя как металлические или полупроводниковые материалы в зависимости от расположения их атомов, их хиральности, а также их размеров.

Читать далее

Трехкоординатный 3D атомно-силовой микроскоп позволяет проводить усовершенствованное трехмерное сканирование как структур с изолированными линиями, так и структур с плотной упаковкой линий.

Читать далее

Одним из методов производства структурированных наномассивов является использование масочных наношаблонов. В данном исследовании описывается анализ масочного наношаблона, изготовленного из сополимера PS‑b‑PMMA и анодного оксида алюминия.

Читать далее

Использование такой технологии, как атомно-силовая микроскопия (АСМ), в областях науки о жизни позволяет ученым начать исследования и раскрывать неизведанные тайны на уровне наномасштабов.

Читать далее

Благодаря своим ферромагнитным свойствам и правильно-ориентированной структуре вблизи поверхности раздела при комнатной температуре, пленка MnAs на подложке GaAs является одной из наиболее перспективных систем для будущих спинтронных устройств.

Читать далее

Во время химико-механического полирования металла слои металлов меди или вольфрама истощаются, что приводит к образованию дефектов поверхности. Атомно-силовая микроскопия становится одним из необходимых инструментов в полупроводниковой промышленности с целью контроля таких дефектных результатов обработки.

Читать далее

Структура образца плазмида была успешно охарактеризована с помощью атомно-силового микроскопа NX10 компании Park Systems с использованием бесконтактного метода сканирования в жидкости в режиме True Non-Contact.

Читать далее

Способность понять и теоретически контролировать как электронные, морфологические и химические несоответствия вместе играют синергетическую роль в работе устройств из ZnO, должна быть первоочередной во всех текущих исследованиях ZnO в качестве электронного материала. Существует несколько методик, которые позволяют рассмотреть одно или два из этих свойств на ограниченном масштабе.

Читать далее

Цель всех видов микроскопии – предоставить возможность увидеть более мелкие объекты и их детали и характеристики, которые нельзя увидеть без вспомогательных устройств. Естественно, что ход научного исследования требует, чтобы мы в результате исследовали абсолютные пределы имеющихся методик метрологии и атомно-силовая микроскопия (АСМ) не является исключением.

Читать далее

С помощью атомно-силового микроскопа NX20 компании Park Systems и простого в использовании и эргономичного программного обеспечения SmartScan могут быть получены изображения волос для сравнения топографии поверхности на наноуровне до и после длительного воздействия солнечным светом.

Читать далее