Блог — Атомно-силовая микроскопия

ДЕК142018

Цель всех видов микроскопии – предоставить возможность увидеть более мелкие объекты и их детали и характеристики, которые нельзя увидеть без вспомогательных устройств. Естественно, что ход научного исследования требует, чтобы мы в результате исследовали абсолютные пределы имеющихся методик метрологии и атомно-силовая микроскопия (АСМ) не является исключением.

ДЕК072018

С помощью атомно-силового микроскопа NX20 компании Park Systems и простого в использовании и эргономичного программного обеспечения SmartScan могут быть получены изображения волос для сравнения топографии поверхности на наноуровне до и после длительного воздействия солнечным светом.

НОЯ132018

В данной статье измерение методом PFM выполняется с использованием нового разработанного режима PinPoint компании Park System с целью предоставления положительных отличий от обычного контактного режима. Сравнение производительности обычной PFM и PinPoint PFM проводилось при измерении отожженной фенантреновой пленки.

ИЮЛ202018

В последние годы понимание электрохимических процессов, таких как электроосаждение, стало важным аспектом в различных технологических и научных приложениях, включая микроэлектронику, нанобиологические системы, преобразование солнечной энергии и другие применения химической отрасли, благодаря широкому спектру возможностей данного метода. Процесс электроосаждения сокращает количество катионов и способствует осаждению частиц на поверхность проводящей подложки.

ИЮЛ092018

Атомно-силовая микроскопия (АСМ) предлагает простой, эффективный и неразрушающий альтернативный метод контроля для анализа различных видов поверхностей структурированных объектов как на этапах контроля сапфировых подложек, так и на конечной стадии готовых LED.