Блог — Атомно-силовая микроскопия

ИЮЛ092019

В данной статье показана надежность бесконтактного режима анализа True Non-Contact атомно-силовых микроскопов компании Park Systems для измерения шероховатости и отображения топографии поверхности до долей нм. А также, наглядно продемонстрировано, почему для измерения шероховатости поверхности требуются острота кантилевера и низкий уровень шумов системы.

ИЮН052019

В данной статье демонстрируется использование горизонтальной пьезоэлектрической силовой микроскопии для анализа дефектов и отказов многослойного керамического конденсатора. Этот метод позволяет определять характеристики пьезоэлектрических доменов в диэлектрике конденсатора в наномасштабе.

АПР252019

В данной статье продемонстрирована возможность использования режима латеральной силовой микроскопии (LFM) с целью нахождения отличий по структурному составу компонентов в веществе, который основан на регистрации относительной разницы коэффициентов трения самих компонентов.

ФЕВ212019

Новый наномеханический режим PinPoint атомно-силового микроскопа NX10 является идеальным методом количественной оценки механических свойств на уровне наномасштабов, который к тому же позволяет продлить срок службы кантилевера.

ЯНВ292019

Углеродные нанотрубки привлекли значительный интерес научного сообщества и промышленности благодаря своим уникальный электрическим свойствам. УНТ могут вести себя как металлические или полупроводниковые материалы в зависимости от расположения их атомов, их хиральности, а также их размеров.

ЯНВ222019

Трехкоординатный 3D атомно-силовой микроскоп позволяет проводить усовершенствованное трехмерное сканирование как структур с изолированными линиями, так и структур с плотной упаковкой линий.

ДЕК282018

Одним из методов производства структурированных наномассивов является использование масочных наношаблонов. В данном исследовании описывается анализ масочного наношаблона, изготовленного из сополимера PS‑b‑PMMA и анодного оксида алюминия.

ДЕК272018

Использование такой технологии, как атомно-силовая микроскопия (АСМ), в областях науки о жизни позволяет ученым начать исследования и раскрывать неизведанные тайны на уровне наномасштабов.

ДЕК252018

Благодаря своим ферромагнитным свойствам и правильно-ориентированной структуре вблизи поверхности раздела при комнатной температуре, пленка MnAs на подложке GaAs является одной из наиболее перспективных систем для будущих спинтронных устройств.

ДЕК212018

Во время химико-механического полирования металла слои металлов меди или вольфрама истощаются, что приводит к образованию дефектов поверхности. Атомно-силовая микроскопия становится одним из необходимых инструментов в полупроводниковой промышленности с целью контроля таких дефектных результатов обработки.