Свежие записи
14 ноября 2019

Автор: ВикторРаздел: Атомно-силовая микроскопия

28 августа 2019

Автор: ВикторРаздел: Атомно-силовая микроскопия

12 августа 2019

Автор: ВикторРаздел: Рамановская спектроскопия (спектроскопия комбинационного рассеяния)

Подписка на новые статьи


Нажимая кнопку «Подписаться», вы принимаете условия «Соглашения на обработку персональных данных».

Блог — Атомно-силовая микроскопия

Углеродные нанотрубки привлекли значительный интерес научного сообщества и промышленности благодаря своим уникальный электрическим свойствам. УНТ могут вести себя как металлические или полупроводниковые материалы в зависимости от расположения их атомов, их хиральности, а также их размеров.

Читать далее

Трехкоординатный 3D атомно-силовой микроскоп позволяет проводить усовершенствованное трехмерное сканирование как структур с изолированными линиями, так и структур с плотной упаковкой линий.

Читать далее

Одним из методов производства структурированных наномассивов является использование масочных наношаблонов. В данном исследовании описывается анализ масочного наношаблона, изготовленного из сополимера PS‑b‑PMMA и анодного оксида алюминия.

Читать далее

Использование такой технологии, как атомно-силовая микроскопия (АСМ), в областях науки о жизни позволяет ученым начать исследования и раскрывать неизведанные тайны на уровне наномасштабов.

Читать далее

Благодаря своим ферромагнитным свойствам и правильно-ориентированной структуре вблизи поверхности раздела при комнатной температуре, пленка MnAs на подложке GaAs является одной из наиболее перспективных систем для будущих спинтронных устройств.

Читать далее

Во время химико-механического полирования металла слои металлов меди или вольфрама истощаются, что приводит к образованию дефектов поверхности. Атомно-силовая микроскопия становится одним из необходимых инструментов в полупроводниковой промышленности с целью контроля таких дефектных результатов обработки.

Читать далее

Структура образца плазмида была успешно охарактеризована с помощью атомно-силового микроскопа NX10 компании Park Systems с использованием бесконтактного метода сканирования в жидкости в режиме True Non-Contact.

Читать далее

Способность понять и теоретически контролировать как электронные, морфологические и химические несоответствия вместе играют синергетическую роль в работе устройств из ZnO, должна быть первоочередной во всех текущих исследованиях ZnO в качестве электронного материала. Существует несколько методик, которые позволяют рассмотреть одно или два из этих свойств на ограниченном масштабе.

Читать далее

Цель всех видов микроскопии – предоставить возможность увидеть более мелкие объекты и их детали и характеристики, которые нельзя увидеть без вспомогательных устройств. Естественно, что ход научного исследования требует, чтобы мы в результате исследовали абсолютные пределы имеющихся методик метрологии и атомно-силовая микроскопия (АСМ) не является исключением.

Читать далее

С помощью атомно-силового микроскопа NX20 компании Park Systems и простого в использовании и эргономичного программного обеспечения SmartScan могут быть получены изображения волос для сравнения топографии поверхности на наноуровне до и после длительного воздействия солнечным светом.

Читать далее

В данной статье измерение методом PFM выполняется с использованием нового разработанного режима PinPoint компании Park System с целью предоставления положительных отличий от обычного контактного режима. Сравнение производительности обычной PFM и PinPoint PFM проводилось при измерении отожженной фенантреновой пленки.

Читать далее

В последние годы понимание электрохимических процессов, таких как электроосаждение, стало важным аспектом в различных технологических и научных приложениях, включая микроэлектронику, нанобиологические системы, преобразование солнечной энергии и другие применения химической отрасли, благодаря широкому спектру возможностей данного метода. Процесс электроосаждения сокращает количество катионов и способствует осаждению частиц на поверхность проводящей подложки.

Читать далее

Атомно-силовая микроскопия (АСМ) предлагает простой, эффективный и неразрушающий альтернативный метод контроля для анализа различных видов поверхностей структурированных объектов как на этапах контроля сапфировых подложек, так и на конечной стадии готовых LED.

Читать далее

В современную эру цифровых устройств магнитные хранилища жизненно важны, поскольку применяются во всевозможных сферах и приборах, включая компьютеры, мобильные телефоны, серверы данных и т.п. Способность магнитных хранилищ хранить большое количество информации на маленькой площади, оставаясь при этом недорогими и доступными, делает их наиболее привлекательными, по сравнению с другими устройствами хранения высокой плотности.

Читать далее

В данной статье описано исследование новых наноэлектронных устройств с вакуумными каналами с помощью емкостной сканирующей микроскопии (SCM) на атомно-силовом микроскопе NX20, чтобы продемонстрировать его возможности как нового и универсального решения в данной области исследований. Исследуемый образец имел свой собственный «сток-исток» интерфейс, а область сканирования составляла 450х800 нм.

Читать далее

Основываясь на непревзойденных физических свойствах оксида цинка и стремлении к миниатюризации элементной базы, были приложены большие усилия для синтеза, характеризации и разработки сфер применения наноматериалов на основе ZnO. В результате, широкий ассортимент наноструктур, таких, как нанопровода, нанотрубки, нанокольца и нано-тетраподы успешно выращивается с помощью различных методов, включая химическое осаждение из газовой фазы, термическое испарение, электролитическое осаждение и прочие. Данные структуры подвергались процессам электрического переноса, УФ облучения, газового зондирования и ферромагнитного легирования, в которых был достигнут значительных прогресс.

Читать далее

Сканирующая микроскопия с зондом Кельвина (SKPM) была представлена как метод для измерения локальной разницы потенциалов между проводящим наконечником кантилевера для атомно-силовой микроскопии (АСМ) и поверхностью исследуемого образца.

Читать далее

Необходимость измерения свойств поверхности различных материалов все чаще становится неотъемлемым требованием во многих применениях и областях, таких как производство полупроводниковых устройств и контроль структуры биологических образцов. Существует несколько методов атомно-силовой...

Читать далее

Добавление нанотехнологий в текстильную промышленность помогает разрабатывать материалы нового поколения, которые могут найти широкое применение в будущем. Понимание свойств и характеристик новых материалов, интегрированных в структуру существующих текстильных матриц...

Читать далее

Иногда, для того, чтобы определить и понять главную проблему, а затем разработать метод ее решения, необходимо исследовать объект в естественных условиях. Некоторые современные технологии и применения часто сталкиваются с подобными задачами.

Читать далее

Углеродные нанотрубки (УНТ) являются популярным объектом для исследований и применяются в различных областях. Однако их очень сложно изготавливать в большом количестве. В результате исследователи начали поиск альтернативных материалов с похожими свойствами.

Читать далее

Полупроводниковые устройства являются основной составляющей современных электронных продуктов благодаря их способности образовывать электрические схемы на основе транзисторов, диодов и интегральных схем, которые широко используются во многих сферах производства (например, аналоговые и цифровые компоненты компьютеров).

Читать далее

Подложки из монокристаллического кремния являются важным элементом в полупроводниковой промышленности. При изготовлении подложек методом Чохральского получаются высококачественные монокристаллические структуры с определенными дефектами, которые формируются в процессе роста кристалла или при дальнейшей обработке.

Читать далее