Свежие записи
29 июня 2020

Автор: ВикторРаздел: Рамановская спектроскопия (спектроскопия комбинационного рассеяния)

09 апреля 2020

Автор: ВикторРаздел: Анализ микроструктуры материалов

Подписка на новые статьи


Нажимая кнопку «Подписаться», вы принимаете условия «Соглашения на обработку персональных данных».

Блог — Атомно-силовая микроскопия

В современную эру цифровых устройств магнитные хранилища жизненно важны, поскольку применяются во всевозможных сферах и приборах, включая компьютеры, мобильные телефоны, серверы данных и т.п. Способность магнитных хранилищ хранить большое количество информации на маленькой площади, оставаясь при этом недорогими и доступными, делает их наиболее привлекательными, по сравнению с другими устройствами хранения высокой плотности.

Читать далее

В данной статье описано исследование новых наноэлектронных устройств с вакуумными каналами с помощью емкостной сканирующей микроскопии (SCM) на атомно-силовом микроскопе NX20, чтобы продемонстрировать его возможности как нового и универсального решения в данной области исследований. Исследуемый образец имел свой собственный «сток-исток» интерфейс, а область сканирования составляла 450х800 нм.

Читать далее

Основываясь на непревзойденных физических свойствах оксида цинка и стремлении к миниатюризации элементной базы, были приложены большие усилия для синтеза, характеризации и разработки сфер применения наноматериалов на основе ZnO. В результате, широкий ассортимент наноструктур, таких, как нанопровода, нанотрубки, нанокольца и нано-тетраподы успешно выращивается с помощью различных методов, включая химическое осаждение из газовой фазы, термическое испарение, электролитическое осаждение и прочие. Данные структуры подвергались процессам электрического переноса, УФ облучения, газового зондирования и ферромагнитного легирования, в которых был достигнут значительных прогресс.

Читать далее

Сканирующая микроскопия с зондом Кельвина (SKPM) была представлена как метод для измерения локальной разницы потенциалов между проводящим наконечником кантилевера для атомно-силовой микроскопии (АСМ) и поверхностью исследуемого образца.

Читать далее

Необходимость измерения свойств поверхности различных материалов все чаще становится неотъемлемым требованием во многих применениях и областях, таких как производство полупроводниковых устройств и контроль структуры биологических образцов. Существует несколько методов атомно-силовой...

Читать далее

Добавление нанотехнологий в текстильную промышленность помогает разрабатывать материалы нового поколения, которые могут найти широкое применение в будущем. Понимание свойств и характеристик новых материалов, интегрированных в структуру существующих текстильных матриц...

Читать далее

Иногда, для того, чтобы определить и понять главную проблему, а затем разработать метод ее решения, необходимо исследовать объект в естественных условиях. Некоторые современные технологии и применения часто сталкиваются с подобными задачами.

Читать далее

Углеродные нанотрубки (УНТ) являются популярным объектом для исследований и применяются в различных областях. Однако их очень сложно изготавливать в большом количестве. В результате исследователи начали поиск альтернативных материалов с похожими свойствами.

Читать далее

Полупроводниковые устройства являются основной составляющей современных электронных продуктов благодаря их способности образовывать электрические схемы на основе транзисторов, диодов и интегральных схем, которые широко используются во многих сферах производства (например, аналоговые и цифровые компоненты компьютеров).

Читать далее

Подложки из монокристаллического кремния являются важным элементом в полупроводниковой промышленности. При изготовлении подложек методом Чохральского получаются высококачественные монокристаллические структуры с определенными дефектами, которые формируются в процессе роста кристалла или при дальнейшей обработке.

Читать далее